[發明專利]一種基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法

在審

• 申請號: 201710399072.1
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN106984560A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 譚平;趙成龍;唐星;陳龍
• 申請（專利權）人: 成都福譽科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/36;B07C5/02
• 代理公司: 四川力久律師事務所51221
• 代理人: 王蕓,熊曉果

1.一種基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，

旋轉機構通過旋轉帶動至少一個吸取部件在一水平面內做同向運動，使吸取部件循環地經過上料工位、前檢工位和傳送工位；

當有吸取部件到達上料工位，則控制旋轉機構停止旋轉一定時間，并控制負壓源向所述吸取部件提供負壓，使所述吸取部件吸取上料工位上待送檢的太陽能硅片；

當有吸取部件到達前檢工位，則控制旋轉機構停止旋轉一定時間，并由位于前檢工位的檢測裝置完成對所述吸取部件上吸取的太陽能硅片背面的外觀檢測；

當有吸取部件到達傳送工位，則控制旋轉機構停止旋轉一定時間，并控制負壓源停止向所述吸取部件提供負壓，使所述吸取部件與其吸取的太陽能硅片分離，然后所述太陽能硅片落在傳送工位上，再通過傳送機構將所述太陽能硅片傳送至后檢工位；

當有太陽能硅片位于后檢工位，則控制傳送機構停止動作一定時間，并由位于后檢工位的檢測裝置完成對所述太陽能硅片正面的外觀檢測，再通過傳送機構將所述太陽能硅片傳送至下料工位；

當有太陽能硅片位于下料工位，則控制傳送機構停止動作一定時間，根據所述太陽能硅片對應的動作控制指令，分揀機構將所述太陽能硅片分揀到相應的料盤中；其中，在所述太陽能硅片到達下料工位前，通過分析所述太陽能硅片背面和正面的外觀檢測數據，得到外觀檢測結果，并根據所述外觀檢測結果，確定分揀機構處理所述太陽能硅片的動作控制指令。

2.如權利要求1所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，將確定的動作控制指令與太陽能硅片的送檢順序相關聯，所述分揀機構根據太陽能硅片的送檢順序，而執行相應的動作控制指令。

3.如權利要求1所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，采用至少三個吸取部件，并通過設置吸取部件之間的位置關系以及上料工位、前檢工位和傳送工位之間的位置關系，當有吸取部件到達上料工位時，有另外兩個吸取部件分別到達前檢工位和傳送工位。

4.如權利要求3所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，將旋轉機構停止旋轉的時間設定為統一的值。

5.如權利要求4所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，當有吸取部件到達傳送工位，則控制傳送機構停止動作，并根據控制負壓源停止向所述吸取部件提供負壓的信號，控制傳送機構開始動作。

6.如權利要求5所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，通過設定吸取部件到達傳送工位與控制負壓源停止向所述吸取部件提供負壓之間的時間間隔，并根據傳送工位到后檢工位的距離和后檢工位到下料工位的距離，設置傳送機構的傳送速度，使每當所述傳送機構停止動作時，有太陽能硅片分別到達后檢工位和下料工位。

7.如權利要求1所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，在上料工位將待送檢的太陽能硅片逐片地頂升至預定高度，使吸取部件直接吸取待送檢的太陽能硅片。

8.如權利要求1所述的基于太陽能硅片外觀缺陷的分揀方法，其特征在于，將負壓源提供的負壓平均分配給各個吸取部件，使各個吸取部件獲得平均的負壓，并對各個吸取部件上的負壓采用獨立的開關控制。