[發(fā)明專利]一種在片天線測試探針臺在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710396149.X | 申請日: | 2017-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN107015070A | 公開(公告)日: | 2017-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙彩霞;陳永杏 | 申請(專利權(quán))人: | 上海賢行電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海伯瑞杰知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司31227 | 代理人: | 孟旭彤 |
| 地址: | 201112 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 天線 測試 探針 | ||
1.一種在片天線測試探針臺,用于對在片天線的測試。其特征在于,該探針臺包括探針臺支架,探針臺支架從側(cè)面看為豎起的凹形。
在該探針臺支架頂面上放置有減震墊,減震墊的上面放置配重底板。
探針座、顯微鏡和樣品臺安裝在配重底板上,用于放置被測在片天線的樣品臺位于配重底板的頭部。
探針臺支架頂面上設(shè)有顯示器,該顯示器通過一個顯示器支架安裝在探針臺支架頂面上。
配重底板上設(shè)有顯微鏡支架,顯微鏡支架上裝設(shè)有顯微鏡移動擺臂,該顯微鏡移動擺臂與顯微鏡連接。
2.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,探針臺支架頂面從后向前看,呈現(xiàn)為凸形。
3.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,減震墊采用氣囊防震。
4.如權(quán)利要求1所述的片上天線測試探針臺,其特征在于,探針座上設(shè)有高頻模塊和波導管,高頻模塊通過多個設(shè)置的緊定旋鈕進行緊定調(diào)節(jié)。
5.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,顯微鏡支架上設(shè)有X、Y方向調(diào)節(jié)旋鈕,以及精、粗調(diào)焦旋鈕。
6.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,探針座上設(shè)有X、Y、Z、R軸調(diào)節(jié)旋鈕。
7.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,樣品臺上設(shè)有X、Y、Z軸調(diào)節(jié)旋鈕。
8.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,探針臺支架是空腔流體配重結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求7所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,樣品臺在其前端設(shè)有用于被測在片天線定位裝置,定位裝置的中心位置設(shè)有針孔吸附孔,通過內(nèi)置在樣品臺中的抽真空氣道將被測在片天線牢牢固定在定位處。
10.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,與該探針臺配套使用的裝置包括安裝在轉(zhuǎn)盤底座的L形旋轉(zhuǎn)臂,L形旋轉(zhuǎn)臂的頭部設(shè)有活動搖臂,通過轉(zhuǎn)盤底座的轉(zhuǎn)盤馬達的驅(qū)動,搖臂實現(xiàn)對樣品臺上被測在片天線的無死角移動掃描。
11.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,探針臺支架底面設(shè)有固定調(diào)平地腳。
12.如權(quán)利要求1所述的在片天線測試探針臺,其特征在于,顯示器支架是萬向調(diào)節(jié)支架。
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