[發明專利]利用靜力觸探比貫入阻力確定旁壓試驗基準水平基床系數的方法

有效

• 申請號: 201710391163.0
• 申請日: 2017-05-27
• 公開（公告）號: CN107022995B
• 公開（公告）日: 2019-04-02
• 發明（設計）人: 涂啟柱;熊大生;吳守富;王忠華;黃俊杰;米軍;于廷新;張燕;謝凡
• 申請（專利權）人: 中鐵第四勘察設計院集團有限公司
• 主分類號: E02D1/02
• 分類號: E02D1/02
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍;劉琳

1.一種利用靜力觸探比貫入阻力確定旁壓試驗基準水平基床系數的方法，其特征在于，包括如下步驟：

1)對測量地區土層進行靜力觸探試驗，采集測量地區的靜力觸探比貫入阻力p_s；

2)通過計算獲得旁壓試驗基準水平基床系數K_h1，計算公式為：

對于黏性土：

對于砂類土：K_h1＝6.57p_s (2)

其中，式(1)適用于流塑至硬塑的黏性土，式(2)適用于松散至密實的砂類土。

2.根據權利要求1所述的利用靜力觸探比貫入阻力確定旁壓試驗基準水平基床系數的方法，其特征在于：所述步驟1)的具體步驟包括：

11)布置靜探孔的測試孔位；

12)安裝反力裝置和貫入設備；

13)啟動貫入設備，采集貫入阻力值；

14)提取所采集的貫入阻力值，并按照力學指標進行分層，獲得每一層的貫入阻力p_s。

3.根據權利要求2所述的利用靜力觸探比貫入阻力確定旁壓試驗基準水平基床系數的方法，其特征在于：所述步驟13)中貫入設備以20mm/s的速度勻速貫入試驗地層中，每貫入100mm采集一次貫入阻力。

4.根據權利要求2所述的利用靜力觸探比貫入阻力確定旁壓試驗基準水平基床系數的方法，其特征在于：所述測試孔位布置在地下結構物所受應力集中節點位置，或距離應力集中節點水平間距2～3m處，所述測試孔位的深度進入結構底板以下不小于30m或基坑開挖深度的3倍。

5.根據權利要求2所述的利用靜力觸探比貫入阻力確定旁壓試驗基準水平基床系數的方法，其特征在于：所述步驟14)中每一層的貫入阻力p_s為選取的采集的每一層中所有靜探孔的貫入阻力的平均值。