[發(fā)明專利]一種化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu)及其制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710390074.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107275315A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門(mén)市三安集成電路有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/64 | 分類號(hào): | H01L23/64;H01L21/02 |
| 代理公司: | 廈門(mén)市首創(chuàng)君合專利事務(wù)所有限公司35204 | 代理人: | 張松亭,陳淑嫻 |
| 地址: | 361000 福建省廈門(mén)*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 化合物 半導(dǎo)體 電容 結(jié)構(gòu) 及其 制作方法 | ||
1.一種化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:包括晶片以及設(shè)置于晶片背面的MIM電容;
所述晶片包括化合物半導(dǎo)體基底以及設(shè)于所述基底正面的金屬連線層,所述基底具有貫穿正面和背面的散熱連接口,所述散熱連接口暴露所述金屬連線層;
所述MIM電容包括第一電極板、介質(zhì)層和第二電極板,第一電極板、介質(zhì)層和第二電極板依次層疊且分別沿所述散熱連接口內(nèi)壁延伸以覆蓋所述散熱連接口的底面和側(cè)面并延伸至覆蓋所述散熱連接口周邊所述基底的背面,其中第一電極板于所述散熱連接口底面與所述金屬連線層物理接觸,第二電極板接地。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述第一電極板和第二電極板分別包括依次層疊的阻擋金屬層和導(dǎo)電金屬層,其中阻擋金屬層的厚度為20-100nm,導(dǎo)電金屬層的厚度為400-1600nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述阻擋金屬層為T(mén)iW,導(dǎo)電金屬層為Au。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述介質(zhì)層的厚度為50-200nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述介質(zhì)層為SiN。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述第一電極板、第二電極板和介質(zhì)層向所述散熱連接口周邊所述基底的背面延伸的長(zhǎng)度依次遞增。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的化合物半導(dǎo)體背金電容的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述第二電極板于封裝結(jié)構(gòu)中與封裝支架連接以實(shí)現(xiàn)接地。
8.一種權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述化合物半導(dǎo)體背金電容的制作方法,其特征在于包括以下步驟:
1)提供完成正面制程的晶片,所述晶片包括化合物半導(dǎo)體基底以及設(shè)于所述基底正面的金屬連線層;
2)將所述晶片用蠟以正面向下的方式貼合到襯底上;
3)研磨減薄后,通過(guò)光刻工藝于所述基底上形成貫穿正面和背面的散熱連接口,所述散熱連接口暴露所述金屬連線層表面;
4)依次沉積形成覆蓋所述散熱連接口的底面和側(cè)面并覆蓋散熱連接口周邊的基底背面的第一電極板、介質(zhì)層和第二電極板,以形成MIM電容結(jié)構(gòu);
5)將晶片翻面后,剝離襯底并進(jìn)行清洗;
6)第二電極板接地。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的制作方法,其特征在于步驟4)包括以下子步驟:
a)沉積覆蓋所述散熱連接口的底面和側(cè)面并覆蓋基底背面的第一阻擋金屬層,厚度為20-100nm;
b)沉積覆蓋第一阻擋金屬層的第一導(dǎo)電金屬層,厚度為400-1600nm;
c)去除第一預(yù)設(shè)區(qū)域之外所述基底背面的第一阻擋金屬層和第一導(dǎo)電金屬層,剩余的第一阻擋金屬層和第一導(dǎo)電金屬層形成所述第一電極板,其中所述第一預(yù)設(shè)區(qū)域包括所述散熱連接口及其周邊所述基底的背面;
d)沉積形成覆蓋第一電極板和基底背面的介質(zhì)層,厚度為50-200nm;
e)沉積覆蓋介質(zhì)層的第二阻擋金屬層,厚度為20-100nm;
f)沉積覆蓋第二阻擋金屬層的第二導(dǎo)電金屬層,厚度為400-1600nm;
g)去除第二預(yù)設(shè)區(qū)域之外所述基底背面的第二阻擋金屬層和第二導(dǎo)電金屬層,剩余的第二阻擋金屬層和第二導(dǎo)電金屬層形成所述第二電極板,其中所述第二預(yù)設(shè)區(qū)域涵蓋并大于所述第一預(yù)設(shè)區(qū)域。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的制作方法,其特征在于:所述第一導(dǎo)電金屬層和/或第二導(dǎo)電金屬層是先通過(guò)物理氣相沉積100-600nm的金屬層作為電鍍種子,然后電鍍300-1000nm的金屬層制得。
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