[發明專利]一種回轉平臺姿態誤差測量方法

在審

• 申請號: 201710388544.3
• 申請日: 2017-05-27
• 公開（公告）號: CN107101606A
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 王軍輝
• 申請（專利權）人: 江蘇密斯歐智能科技有限公司
• 主分類號: G01B21/22
• 分類號: G01B21/22
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司32224
• 代理人: 母秋松,董建林

1.一種回轉平臺姿態誤差測量方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟一：確定主軸轉動的初始零位，從初始零位開始測量，每隔5°-10°在被測物件固定點上測量一次，測量一周的數據，進行角度評價，生成評價報告并存在數據文件 D1中；

步驟二：調整兩個同一側地腳螺釘高度，提高0.5mm，改變基座軸線的鉛垂度；測量方法同步驟一，進行角度評價，生成評價報告并存在數據文件S1中；

步驟三：在被測工件一側墊上0.5mm塞尺,改變回轉平臺和主軸間的垂直度；測量方法同步驟一，進行角度評價，生成評價報告并存在數據文件N 1中；

步驟四：利用諧波分析法對D1、S1、N1中的測量數據進行處理，將測量數據分解成一個恒定分量和若干正弦諧波分量，求出各次諧波的振幅和相角，并畫出諧波曲線。

2.根據權利要求1所述的一種回轉平臺姿態誤差測量方法，其特征在于：所述步驟一中每隔5°在被測物件固定點上測量一次。

3.根據權利要求1所述的一種回轉平臺姿態誤差測量方法，其特征在于：所述步驟一中每隔10°在被測物件固定點上測量一次。

4.根據權利要求1所述的一種回轉平臺姿態誤差測量方法，其特征在于：所述步驟二還包括調整同測兩個地腳螺釘高于初始值 0.8mm、1.0mm，依次重復步驟一，進行角度評價，測量數據存于S2、S3；所述步驟三還包括依次改變回轉平臺和主軸問的垂直度，墊0.8mm、1.0mm塞尺，依次重復步驟一，進行角度評價，測量數據存于N2、N3; 步驟四：利用諧波分析法對D1、S1、S2、S3、N1、N2、N3中的測量數據進行處理，將測量數據分解成一個恒定分量和若干正弦諧波分量，求出各次諧波的振幅和相角，并畫出諧波曲線。

5.根據權利要求1所述的一種回轉平臺姿態誤差測量方法，其特征在于：所述步驟二還包括調整同測兩個地腳螺釘高于初始值1.5mm、1.8mm，依次重復步驟一，進行角度評價，測量數據存于S4、S5；所述步驟三還包括依次改變回轉平臺和主軸問的垂直度，墊1.5mm、1.8mm塞尺，依次重復步驟一，進行角度評價，測量數據存于N4、N5; 步驟四：利用諧波分析法對D1、S1、S4、S5、N1、N4、N5中的測量數據進行處理，將測量數據分解成一個恒定分量和若干正弦諧波分量，求出各次諧波的振幅和相角，并畫出諧波曲線。

6.根據權利要求1所述的一種回轉平臺姿態誤差測量方法，其特征在于：所述步驟二還包括調整同測兩個地腳螺釘高于初始值2.0mm，依次重復步驟一，進行角度評價，測量數據存于S6；所述步驟三還包括依次改變回轉平臺和主軸問的垂直度，墊2.0mm塞尺，依次重復步驟一，進行角度評價，測量數據存于N6; 步驟四：利用諧波分析法對D1、S1、S6、N1、N6中的測量數據進行處理，將測量數據分解成一個恒定分量和若干正弦諧波分量，求出各次諧波的振幅和相角，并畫出諧波曲線。