[發(fā)明專利]一種成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜及其制備方法和應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710387303.7 | 申請日: | 2017-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN107248534B | 公開(公告)日: | 2018-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 宋海勝;鄧輝;袁勝杰 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/0272 | 分類號: | H01L31/0272;H01L31/0296;H01L31/0216 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 42201 | 代理人: | 許恒恒;李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 成分 連續(xù) 漸變 半導(dǎo)體 合金 薄膜 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜,其特征在于,所述半導(dǎo)體合金薄膜的成分為三元硫硒化合物;
記位于所述半導(dǎo)體合金薄膜表面上、且沿半導(dǎo)體合金薄膜表面的硒元素含量保持不變的方向為Y軸方向,記該半導(dǎo)體合金薄膜的厚度方向為Z軸方向,并且記位于該半導(dǎo)體合金薄膜表面上、且與所述Y軸、所述Z軸分別垂直的方向為X軸方向;
所述半導(dǎo)體合金薄膜中硒元素的原子個數(shù)占合金薄膜中硒和硫的原子總數(shù)之比在X軸方向上連續(xù)漸變,在Y軸和Z軸方向上保持不變。
2.如權(quán)利要求1所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜,其特征在于,所述的硫硒化合物為Sb2(SexS1-x)3或Bi2(SexS1-x)3,其中0<x<1。
3.如權(quán)利要求2所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜,其特征在于,所述的硫硒化合物Sb2(SexS1-x)3中硒元素的摩爾百分比x在X軸方向連續(xù)漸變的范圍為0.09-0.84;所述薄膜在X軸方向的長度為5.5-6.5cm,在Y軸方向的寬度為2-5cm,在Z軸方向的厚度為280nm-550nm。
4.如權(quán)利要求1-3任一所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜應(yīng)用,其特征在于,所述薄膜作為吸收層應(yīng)用于太陽能電池或光電探測器。
5.如權(quán)利要求1所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)選用玻璃、導(dǎo)電玻璃或半導(dǎo)體氧化物薄膜作為襯底,洗凈后在400-500℃條件下加熱;
(2)將硫化物粉末均勻撒在一塊玻璃片上,將硒化物粉末均勻撒在另一塊玻璃片上,使單位面積上的粉末的物質(zhì)的量不僅在各自玻璃片上相等,而且在兩塊玻璃片上也相等,且均為0.1-0.12mmol/cm2;即得到兩個平面蒸發(fā)源;
(3)將步驟(2)中得到的兩個平面蒸發(fā)源拼接放在氮化鋁薄片上,并置于快速熱蒸發(fā)設(shè)備托盤支架底部,將步驟(1)所述的襯底倒扣在托盤支架上,襯底背部上面加一塊導(dǎo)熱蓋板,抽真空,然后進行薄膜沉積;所述薄膜沉積過程包括預(yù)熱階段和蒸發(fā)階段,所述預(yù)熱階段的蒸發(fā)源的溫度為200-350℃,該預(yù)熱階段的處理時間為600-900s;所述蒸發(fā)階段的蒸發(fā)源的溫度為500-600℃,該蒸發(fā)階段的處理時間為20-40s;所述蒸發(fā)階段是在真空度為3-8mTorr的條件下進行的,所述蒸發(fā)階段結(jié)束即得到成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜。
6.如權(quán)利要求5所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟(2)所述的硫化物是硫化銻或者硫化鉍,硒化物是硒化銻或者硒化鉍;支撐硫化物的長方形玻璃片的長度為2-3cm,支撐硒化物的長方形玻璃片的長度為3-4cm,兩個玻璃片寬度相同,均為2-3cm。
7.如權(quán)利要求5所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟(3)中襯底與蒸發(fā)源的距離為0.8-1.2cm,蒸發(fā)源的溫度由熱電偶時實時監(jiān)測;所述步驟(3)中導(dǎo)熱蓋板不透明,其熔點高于600℃。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜的制備方法,其特征在于:所述的導(dǎo)熱蓋板為石墨塊、金屬塊或陶瓷塊。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜的制備方法,其特征在于:所述步驟(1)中的半導(dǎo)體氧化物薄膜為TiO2、ZnO、SnO或NiO,襯底用乙醇超聲洗凈,并用紫外臭氧處理20-30分鐘,蒸發(fā)前,襯底在空氣中加熱10-30分鐘;所述步驟(2)中采用網(wǎng)篩將硫化物和硒化物撒在襯底上,重復(fù)篩粉2-3次,所述網(wǎng)篩孔徑為40-60目。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的成分連續(xù)漸變的半導(dǎo)體合金薄膜的制備方法,其特征在于:步驟(3)所述的預(yù)熱階段和蒸發(fā)階段在真空中進行,真空度保持在3-12mTorr,取樣時溫度低于100℃。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





