[發明專利]軋制線基礎跟蹤測量方法

在審

• 申請號: 201710385978.8
• 申請日: 2017-05-26
• 公開（公告）號: CN107084700A
• 公開（公告）日: 2017-08-22
• 發明（設計）人: 吳鍵;魏尚起;包佳;蔡聯河;王珂慧;韓建平
• 申請（專利權）人: 中國二十冶集團有限公司
• 主分類號: G01C3/00
• 分類號: G01C3/00
• 代理公司: 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙)31317
• 代理人: 張寧展

1.一種軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，包括如下步驟：

確定后視點和測站點步驟，在原軋制線上選擇兩個點作為后視點和測站點；所述后視點和所述測站點相對于所述原軋制線的位置不變；

確定預測點步驟，在所述原軋制線上除去所述后視點和所述測站點位置選擇至少兩個點作為所述預測點；

預測點測量步驟，將儀器放置于所述測站點，通過所述后視點多次測量確定各個所述預測點穩定后相對于所述原軋制線的位置；

所述確定后視點和測站點步驟進一步包括如下子步驟：

選點子步驟，在所述原軋制線上選擇的兩個點分別作為所述后視點和所述測站點；

測試子步驟，測試所述后視點和所述測站點相對于所述原軋制線的位置；

判斷子步驟，如果所述后視點和所述測站點相對于所述原軋制線的位置不變，則所述后視點和所述測站點的位置確定。

2.根據權利要求1所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，所述測試子步驟進一步包括：

在所述后視點與所述測站點所在的豎直線之間選擇一點作為輔助測試點，并且，所述輔助測試點與降水池置于所述原軋制線的兩側；

將所述儀器放置于所述輔助測試點，多次測量所述后視點與所述測站點相對于所述原軋制線的位置并比較其位置變化。

3.根據權利要求1所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，所述預測點測量步驟進一步包括：

如果所述后視點和所述測站點的相對位置變化，則重新在所述原軋制線上進行選點和測試直至其相對位置不變。

4.根據權利要求1所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，所述預測點測量步驟中每次測量之間間隔的時間相等。

5.根據權利要求1至4任一項所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，在所述預測點測量步驟之后還包括：

軋制線確定步驟，通過各個所述預測點測試的多個相對位置求平均值確定移動后的新軋制線。

6.根據權利要求2所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，所述后視點與所述降水池的距離大于所述測站點與所述降水池的距離。

7.根據權利要求2所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，所述測站點與所述降水池的距離大于各個所述預測點與所述降水池的距離。

8.根據權利要求1至4任一項所述的軋制線基礎跟蹤測量方法，其特征在于，所述儀器為全站儀。