[發(fā)明專利]一種電路板檢測(cè)裝置、系統(tǒng)及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710384180.1
• 申請(qǐng)日: 2017-05-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107015137A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-08-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 羅詩(shī)途;扈嘯;陳勝剛;徐海軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市賽倫北斗科技有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務(wù)所(普通合伙)43008
• 代理人: 周長(zhǎng)清

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電路板檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板檢測(cè)裝置、系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

PCB板（PrintedCircuitBoard，印刷電路板）是電子工業(yè)的重要部件之一。其可以提供集成電路等各種電子元器件固定、裝配的機(jī)械支撐，實(shí)現(xiàn)集成電路等各種電子元器件之間的布線和電氣連接或電絕緣，提供所要求的電氣特性，如特性阻抗等，為自動(dòng)焊錫提供阻焊圖形和為元件插裝、檢查、維修提供識(shí)別字符和圖形等。現(xiàn)在幾乎每種電子設(shè)備，如電子手表、計(jì)算器、計(jì)算機(jī)、通訊電子設(shè)備和軍用武器系統(tǒng)等，只要其具有集成電路等電子元器件，都要使用PCB板以實(shí)現(xiàn)電子元器件之間的電氣互連。在較大型的電子產(chǎn)品研究過(guò)程中，最基本的成功因素是該產(chǎn)品PCB板的設(shè)計(jì)、文件編制和制造。PCB板的設(shè)計(jì)和制造質(zhì)量會(huì)直接影響到整個(gè)產(chǎn)品的質(zhì)量和成本，甚至導(dǎo)致商業(yè)競(jìng)爭(zhēng)的成敗。因此需要對(duì)PCB板進(jìn)行研制調(diào)試、生產(chǎn)測(cè)試以檢測(cè)和提高PCB板的設(shè)計(jì)和制造質(zhì)量。

測(cè)試電路板的測(cè)試器通常可以被分成兩類，一類帶有指狀測(cè)試器，另一類帶有并行測(cè)試器。指狀測(cè)試器是測(cè)試無(wú)元件或者有元件電路板的測(cè)試器，它利用兩個(gè)或者多個(gè)指狀測(cè)試元件順序或者連續(xù)掃描各個(gè)接觸點(diǎn)。并行測(cè)試器是借助適配器同時(shí)接觸待測(cè)試電路板的所有或者至少多數(shù)電路板測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試器。利用指狀測(cè)試器的連續(xù)測(cè)試慢于利用并行測(cè)試器的并行測(cè)試。

指狀測(cè)試元件通常被固定在可沿橫桿移動(dòng)的滑塊上，而橫桿可被導(dǎo)軌引導(dǎo)并可沿著導(dǎo)軌移動(dòng)。因此滑塊可以被定位在通常是矩形的測(cè)試陣列的任何預(yù)期點(diǎn)上。同樣，存在具有固定橫桿的測(cè)試器，在該橫桿上設(shè)有可移動(dòng)滑塊。指狀測(cè)試元件被布置在這些滑塊上，該指狀測(cè)試元件具有一定長(zhǎng)度并且其一端可轉(zhuǎn)動(dòng)地固定（樞接）于滑塊。通過(guò)指狀測(cè)試元件的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)，可以掃描垂直于橫桿的某些區(qū)域。利用這兩種類型的指狀測(cè)試器，可以接觸和測(cè)試待測(cè)試電路板的電路板測(cè)試點(diǎn)。

EP0468153A1公開(kāi)了一種指狀測(cè)試器，EP0853242A1公開(kāi)了利用指狀測(cè)試器測(cè)試電路板的方法。US5113133公開(kāi)了快速接觸待測(cè)試電路板的電路板測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試探頭。CN102967791B專利公開(kāi)了一種判斷數(shù)字電路板測(cè)試探筆的接觸性的檢查方法。WO9211541公開(kāi)了用于電路板測(cè)試裝置的成像系統(tǒng)。類似于X-Y錄像機(jī)，該成像系統(tǒng)具有可移動(dòng)橫桿，橫桿上裝有帶垂直可移動(dòng)測(cè)試針的測(cè)試頭。在靠近測(cè)試針的位置上裝有一個(gè)成像裝置，它包括透鏡和CCD元件。在一個(gè)監(jiān)視器上顯示由成像裝置產(chǎn)生的圖像，借助在屏幕上所顯示的圖像，操作員在討論會(huì)(teach-in)處理期間，跟蹤所有待測(cè)試接觸點(diǎn)并安排有關(guān)坐標(biāo)，由此控制測(cè)試頭。在測(cè)試期間，裝置自動(dòng)跟蹤各個(gè)接觸點(diǎn)并用測(cè)試針接觸這些接觸點(diǎn)。

但是，在將被測(cè)電路板安裝至測(cè)試臺(tái)上時(shí)，以及完成電路板測(cè)試后將被測(cè)電路板從測(cè)試臺(tái)上取出時(shí)，為了便于被測(cè)電路板的安放和取出，防止測(cè)試探頭與被測(cè)電路板發(fā)生碰撞而導(dǎo)致?lián)p壞，被測(cè)電路板與測(cè)試探頭之間需要有足夠的操作空間。同時(shí)，在測(cè)試的過(guò)程中，為了提高測(cè)試效率，減少測(cè)試探頭在待機(jī)位置與測(cè)試探針接觸到測(cè)試點(diǎn)之間的行程，需要測(cè)試探頭與被測(cè)電路板之間的距離盡可能小。同時(shí)也要防止在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試探針下移接觸測(cè)試點(diǎn)時(shí)，因測(cè)試探針下移行程過(guò)大而導(dǎo)致測(cè)試探針和被測(cè)電路板的損壞。而現(xiàn)有技術(shù)中的電路板檢測(cè)裝置無(wú)法很好的解決這些問(wèn)題。

在計(jì)算機(jī)中用EDA工具設(shè)計(jì)印制電路板的原理圖，原理圖代表了電子元器件連接的邏輯關(guān)系，又稱邏輯圖。依據(jù)原理圖設(shè)計(jì)PCB圖，然后依據(jù)PCB圖樣加工出印制電路板，并裝焊元器件得到電路板實(shí)體。對(duì)電路板實(shí)體的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程，即是獲取電路板實(shí)體各個(gè)信號(hào)的運(yùn)行狀態(tài)與原理圖設(shè)計(jì)期望一一印證的過(guò)程。

當(dāng)前一般硬件工程師采用的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程是：

1）在電路原理圖上找需要測(cè)試的邏輯信號(hào)。2）人工在PCB圖中查找到該信號(hào)對(duì)應(yīng)的PCB觸點(diǎn)位置。3）人工在電路板實(shí)體上找到觸點(diǎn)物理位置。4）手工操作測(cè)試設(shè)備探頭（指狀測(cè)試器）與觸點(diǎn)接觸。5）在測(cè)試設(shè)備上觀察測(cè)試結(jié)果。6）人工與設(shè)計(jì)預(yù)期比對(duì)是否符合。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題就在于：針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種安裝、取出被測(cè)電路板方便、測(cè)試效率高、可有效防止被測(cè)電路板和測(cè)試探針損壞的電路板檢測(cè)裝置、系統(tǒng)及方法。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提出的技術(shù)方案為：一種電路板檢測(cè)裝置，包括：底座，被測(cè)電路板安裝臺(tái)、安裝臺(tái)升降組件，探頭平面移動(dòng)組件、測(cè)試探頭；

所述安裝臺(tái)升降組件安裝在底座上，用于驅(qū)動(dòng)所述被測(cè)電路板安裝臺(tái)上升或下降；