[發明專利]一種發光二極管量子效率測量裝置及其測量方法

有效

• 申請號: 201710383842.3
• 申請日: 2017-05-26
• 公開（公告）號: CN107228710B
• 公開（公告）日: 2018-08-07
• 發明（設計）人: 陳忠;張汝京;林思棋;施天謨;呂毅軍;林岳
• 申請（專利權）人: 廈門大學;昇瑞光電科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J5/22
• 代理公司: 廈門南強之路專利事務所(普通合伙) 35200
• 代理人: 馬應森

1.發光二極管量子效率測量方法，其特征在于包括以下步驟：

1)采用發光二極管量子效率測量裝置，所述發光二極管量子效率測量裝置設有計算機、數字電源表、溫度控制源表、溫控夾具、光譜儀和紅外熱像儀；所述溫控夾具夾持待測發光二極管，數字電源表電源兩極連接待測發光二極管，數字電源表與計算機電連接，計算機與溫度控制源表電連接，溫度控制源表所配套的溫度傳感器和加熱板均安裝于溫控夾具上，光譜儀與計算機電連接，紅外熱像儀與計算機電連接；

2)由溫度控制源表設定一組溫度值T，設定的一組溫度值至少包含5個不同的溫度值T，所述溫度值低于待測發光二極管的失效溫度，同時由數字電源表設定電流值I，所述電流值I低于待測發光二極管的失效電流；

3)按所設定的一組溫度值和所設定的電流值，分別測量得到不同溫控夾具溫度值T_S下的發光二極管的一組量子效率η；

4)通過步驟3)所測得的一組量子效率η，先畫出不同電流值I條件下量子效率η與溫度T的關系圖，然后通過下述公式(1)進行直線擬合：

η＝λ₁(I)-λ₂(I)*T (1)

得到一組與電流值I對應的λ₁(I)和λ₂(I)系數；

5)控制溫控夾具的溫度不變，使數字電源表的輸出電流從零開始逐漸增大，紅外熱像儀測量并記錄發光二極管的溫度T(I)，測量的電流不超過發光二極管的失效電流，再通過下述公式(2)進行擬合：

T(I)＝A+B*I (2)

6)保持溫控夾具的溫度不變，使數字電源表的輸出電流從零開始逐漸增大，光譜儀測量并記錄發光二極管的受熱影響的量子效率η，測量的電流不超過發光二極管的失效電流；

7)通過公式(3)獲得消除熱影響情況下的量子效率(η′)：

η′＝η+B*∫λ₂(I)dI. (3)。