[發(fā)明專利]一種BCD器件及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710383704.5 | 申請日: | 2017-05-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107180829B | 公開(公告)日: | 2019-12-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 喬明;詹珍雅;余洋;梁龍飛;王睿迪;張波 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L27/06 | 分類號(hào): | H01L27/06;H01L21/822 |
| 代理公司: | 51232 成都點(diǎn)睛專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 敖歡;葛啟函 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電極 外延層 源電極 載流子 比導(dǎo)通電阻 發(fā)射極電極 集電極電極 基極電極 降低器件 接觸電極 元胞結(jié)構(gòu) 降低量 漏電極 掩膜版 柵電極 襯底 開態(tài) 隔離 制造 | ||
本發(fā)明提供一種BCD器件及其制造方法,其元胞結(jié)構(gòu)包括襯底、外延層、P隔離、P阱、P型重?fù)诫s區(qū),N型重?fù)诫s區(qū),DMOS源電極,第一P阱的接觸電極,DMOS柵電極,PMOS柵電極,NMOS柵電極,源電極,漏電極,BJT基極電極,BJT發(fā)射極電極,BJT集電極電極;本發(fā)明可使得BCD工藝減少Nwell區(qū)的掩膜版,有利于降低量產(chǎn)產(chǎn)品的成本,提高產(chǎn)品的競爭力;用于充當(dāng)Nwell區(qū)的外延層濃度提高,從而使得DMOS器件開態(tài)時(shí)載流子數(shù)量增加,進(jìn)一步降低DMOS的比導(dǎo)通電阻,降低器件損耗,提高器件的性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體功率器件技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種BCD器件及其制造方法。
背景技術(shù)
功率集成電路將高壓功率器件與控制電路、外圍接口電路以及保護(hù)電路等集成在同一芯片上,作為系統(tǒng)信號(hào)處理部分和執(zhí)行部分的橋梁,其具有十分廣泛的應(yīng)用。功率集成技術(shù)則為實(shí)現(xiàn)功率集成電路的一種手段,需要在有限的芯片面積上實(shí)現(xiàn)高低壓兼容、高性能、高效率與高可靠性。20世紀(jì)80年代中期以前,功率集成電路主要由雙極工藝制造,然而隨著對(duì)控制部分功能要求的不斷提高,導(dǎo)致集成電路的功耗和面積越來越大,因此,能夠集成3種有源器件優(yōu)點(diǎn)的BCD集成技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。BCD工藝可以充分發(fā)揮雙極器件的低噪聲、高精度和大電流密度,CMOS器件的高集成度、低功耗,DMOS器件的快開關(guān)速度、高輸入阻抗等3種有源器件的優(yōu)點(diǎn),具有非常廣泛的應(yīng)用。
BCD工藝集成了DMOS器件、CMOS器件以及BJT器件,受到業(yè)內(nèi)的高度關(guān)注。文章“Thesemiconductor roadmap for power management in the new millennium”中給出了與圖1所示相類似的結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)CMOS器件的NMOS制作于Pwell中,PMOS直接制作于Nepi上,由于Nepi的濃度一般較低,隨著器件尺寸的降低,該結(jié)構(gòu)容易產(chǎn)生短溝道效應(yīng)。為避免這一問題,文章“Design and optimization of 700V HVIC technology with multi-ringisolation structure”給出了與圖2所示相類似的結(jié)構(gòu),即將CMOS器件的PMOS制作于Nwell中。但該做法將增加一道掩膜版,使得成本上升,不利于批量生產(chǎn)的成本節(jié)約,如何在不增加額外版次的情況下使得BCD器件適應(yīng)器件尺寸減小是一項(xiàng)重要的工作。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本發(fā)明提出了一種BCD器件及其制造方法,目的在于在不增加額外版次的情況下使得BCD器件適應(yīng)器件尺寸減小,降低成本,同時(shí)可降低DMOS器件的比導(dǎo)通電阻。
為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明技術(shù)方案如下:
一種BCD器件,其元胞結(jié)構(gòu)包括襯底、第一外延層、第二外延層,第一P隔離,第二P隔離,第三P隔離,第一P阱,第三P阱,第四P阱,DMOS源極P型重?fù)诫s區(qū),第三P型重?fù)诫s區(qū),第四P型重?fù)诫s區(qū),第五P型重?fù)诫s區(qū),DMOS源極N型重?fù)诫s區(qū),DMOS漏極N型重?fù)诫s區(qū),第二N型重?fù)诫s區(qū),第三N型重?fù)诫s區(qū),第四N型重?fù)诫s區(qū),第五N型重?fù)诫s區(qū),DMOS源電極,第一P阱的接觸電極,DMOS柵電極,PMOS柵電極,NMOS柵電極,PMOS源電極,PMOS漏電極,NMOS源電極,NMOS漏電極,DMOS漏電極,BJT基極電極,BJT發(fā)射極電極,BJT集電極電極;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





