[發(fā)明專利]一種柔性顯示材料在特定彎曲條件下的性能測試夾具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710383694.5 | 申請日: | 2017-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN107219118B | 公開(公告)日: | 2019-12-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王威;李見 | 申請(專利權(quán))人: | 上海研微電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N3/04 | 分類號: | G01N3/04;G01N3/20 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201708 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 柔性 顯示 材料 特定 彎曲 條件下 性能 測試 夾具 | ||
本發(fā)明公開了一種柔性顯示材料在特定彎曲條件下的性能測試夾具,包括:可滾動壓棍;目標(biāo)曲率半徑模型,所述目標(biāo)曲率半徑模型有多件,分別為不同種曲率的樣式,可供更換,以滿足不同曲率半徑測試要求;軸承;軸承架,所述軸承架有多件,兩軸間距不同,可供更換,分別對應(yīng)于不同曲率半徑的目標(biāo)曲率半徑模型;Z軸位移裝置;轉(zhuǎn)接架以及底板。所述Z軸位移裝置用于將所述可轉(zhuǎn)動壓棍按指定行程,將待測樣品壓向目標(biāo)曲率半徑模型,從而實現(xiàn)在測試過程中保持待測樣品特定所需的曲率半徑以及包角。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及半導(dǎo)體和平板顯示檢測技術(shù)。
背景技術(shù)
對于柔性顯示產(chǎn)業(yè),產(chǎn)品在其彎曲情況下的電學(xué),光學(xué)性能測試要求日益苛刻,比如OLED發(fā)光屏在特定彎折的情況下使用探針臺做分析測試,現(xiàn)有的手段多為手動彎折,簡單固定,不僅會由于測量條件不精確,導(dǎo)致彎曲參數(shù)相關(guān)結(jié)論誤差較大,而且會使得待測樣品的關(guān)鍵表面受到刮傷,面臨過大應(yīng)力的缺點,無法滿足精密的測試需要。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種柔性顯示材料在特定彎曲條件下的性能測試夾具,該夾具可以按具體實驗要求使待測樣品處于特定的曲率半徑和包角,且包角連續(xù)可調(diào),同時可以搭配探針臺等其他精密電學(xué)測量設(shè)備做電學(xué)分析使用,也可以搭配顯微鏡等其他光學(xué)設(shè)備使用,填補了業(yè)界的空缺。
發(fā)明內(nèi)容
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案
針對待測樣品不同曲率半徑的測試要求,定制出多件相同高度,頂部曲率半徑不同的目標(biāo)曲率半徑模型(圖1中1),以滿足測試對于不同曲率半徑方面的測試要求;
針對待測樣品不同包角的測試要求,使用可精密控制垂直位移的Z軸位移裝置(圖1中2),控制可滾動壓棍(圖1中3)的下壓量,利用樣品本身的彈性,對包角做連續(xù)調(diào)節(jié),滿足測試需要;
可滾動壓棍與樣品接觸的部分覆有高摩擦力的絕緣層,在確保樣品貼合度的情況下不刮傷樣品表面,同時保證電絕緣;
可滾動壓棍由軸承(圖1中4)保證能自由滾動;
軸承由軸承架(圖1中5)固定,為配合不同目標(biāo)曲率半徑模型頂部的寬度,針對每件目標(biāo)曲率半徑模型,都配有一組相應(yīng)的軸承架;
軸承架和Z軸位移裝置由轉(zhuǎn)接架(圖1中6)組成剛性連接;
Z軸位移裝置和目標(biāo)曲率半徑模型固定于底板(圖1中7)上。
優(yōu)選的,上述性能測試夾具中,所述軸承使用滾動軸承。
優(yōu)選的,所述Z軸位移裝置使用由精密微分頭驅(qū)動的基于交叉導(dǎo)軌的手動位移臺。
優(yōu)選的,所述轉(zhuǎn)接架設(shè)計有安裝限位槽,用于保證更換軸承架時安裝角度與安裝位置正確。
優(yōu)選的,所述底板上設(shè)計有安裝限位槽,用于保證更換目標(biāo)曲率半徑模型時安裝的角度與位置正確,底板上還有另一安裝限位槽,用于保證安裝Z軸位移裝置的安裝角度與位置正確。
優(yōu)選的,目標(biāo)曲率半徑模型表面精拋光處理。
附圖說明
圖1 一種柔性顯示材料在特定彎曲條件下的性能測試夾具結(jié)構(gòu)圖
1、目標(biāo)曲率半徑模型; 2、Z軸位移裝置; 3、可滾動壓棍; 4、軸承; 5、軸承架; 6、轉(zhuǎn)接架; 7、底板。
具體實施方式
實施例1
該實施例為搭配探針臺使用,做不同曲率半徑,不同包角情況下面板有效工作區(qū)域內(nèi)單個TFT逐點解析;
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