[發明專利]X射線熒光分析法測定煤的灰分的方法

有效

• 申請號: 201710376917.5
• 申請日: 2017-05-25
• 公開（公告）號: CN106990130B
• 公開（公告）日: 2019-04-30
• 發明（設計）人: 盧娟娟;馬振珠;劉玉兵;鄧賽文;田駿;戴平;韓蔚
• 申請（專利權）人: 中國建材檢驗認證集團股份有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N1/28
• 代理公司: 北京鼎佳達知識產權代理事務所(普通合伙) 11348
• 代理人: 王偉鋒;劉鐵生

1.一種X射線熒光分析法測定煤的灰分的方法，其特征在于，其包括：

1)將煤樣品粉磨，制成粉末壓片，用X射線熒光分析法測定煤樣品中各氧化物對應元素i的X射線熒光強度I_i；

2)令D＝4.0，其中D值符合公式(1)：

D＝(1-A)/A (1)

其中A為煤的灰分；

3)按照公式(2)計算各氧化物的質量百分數C_i，按照公式(3)計算各氧化物質量百分數的總和SUM，按照公式(4)計算各氧化物的歸一化質量百分數C_0i：

C_i＝K_iI_i(1+Dα_i) (2)

SUM＝∑C_i (3)

C_0i＝C_i/SUM (4)

其中，K_i和α_i滿足公式(5)和(6)：

K_i＝μ_Ai/Q_i (5)

Q_i為比例常數，μ_Ai為煤樣品中灰分對元素i的熒光X射線的質量吸收系數，μ_0i為煤樣品的可燃性碳及有機物對元素i的熒光X射線的質量吸收系數；

4)根據公式(4)求得的二氧化硅的歸一化質量百分數，將所述的二氧化硅的歸一化質量百分數作為二氧化硅的質量百分數，用式(7)計算D值：

5)利用步驟4)求得的D值，重復步驟3)和步驟4)；

6)迭代至SUM＝1.00000±0.00001時，對應的D值代入式(1)可計算煤的灰分A。

2.根據權利要求1所述的X射線熒光分析法測定煤的灰分的方法，其特征在于，所述的煤樣品的細度為200-300目。

3.根據權利要求1所述的X射線熒光分析法測定煤的灰分的方法，其特征在于，所述的煤樣品中的氧化物包括二氧化硅、三氧化二鋁、三氧化二鐵、二氧化鈦、氧化鈣、氧化鎂、三氧化硫、氧化鉀、氧化鈉、氧化錳和五氧化二磷。