[發明專利]一種基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線

在審

• 申請號: 201710376835.0
• 申請日: 2017-05-25
• 公開（公告）號: CN107221751A
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 王昊;高榕;曹建銀;葉中天
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: H01Q3/22
• 分類號: H01Q3/22;H01Q13/28
• 代理公司: 南京理工大學專利中心32203
• 代理人: 馬魯晉

1.一種基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線，其特征在于，包括上層金屬板[1]、中間空氣層[2]和下層槽型波導[3]，所述上層金屬板[1]和下層槽型波導[3]相互平行，二者之間設置中間空氣層[2]，其中上層金屬板[1]的一側設置與其垂直的第一金屬板[6]，下層槽型波導[3]的一側設置與其垂直的第二金屬板[7]，第一金屬板[6]在底面的投影與第二金屬板[7]重合；

下層槽型波導[3]在其延伸方向上設置相互平行的二維周期性EBG結構[4]和一排不同高度的金屬柱[5]，其中一排不同高度的金屬柱[5]靠近第二金屬板[7]，二維周期性EBG結構[4]和一排不同高度的金屬柱[5]之間的間隙尺寸介于二分之一個波長和一個波長之間，所述二維周期性EBG結構[4]為非輻射側，一排不同高度的金屬柱[5]為輻射側。

2.根據權利要求1所述基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線，其特征在于，中間空氣層[2]的尺寸小于四分之一波長。

3.根據權利要求1所述基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線，其特征在于，二維周期性EBG結構[4]中的金屬柱尺寸均一致。

4.根據權利要求1所述基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線，其特征在于，一排不同高度的金屬柱[5]中的金屬柱長、寬尺寸及排列周期與二維周期性EBG結構[4]中的金屬柱對應的尺寸一致，一排不同高度的金屬柱[5]的高度滿足泰勒加權分布。

5.根據權利要求1所述基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線，其特征在于，第一金屬板[6]與第二金屬板[7]的尺寸一致。

6.根據權利要求1所述基于間隙波導的低副瓣漏波頻掃天線，其特征在于，天線總長L＝291mm，間隙波導槽寬W＝13.5mm，中間空氣層[2]的高度ah＝1mm，二維周期性EBG結構[4]中的金屬柱邊長a＝3mm，周期p＝5.8mm，高度ph＝5.5mm，輻射側一排不同高度的金屬柱[5]共設置50個金屬柱，金屬柱長、寬尺寸及排列周期與二維周期性EBG結構[4]中的金屬柱對應的尺寸一致，一排不同高度的金屬柱[5]的高度滿足-30dB的泰勒加權，第一金屬板[6]和第二金屬板[7]尺寸相同，長為291mm，高L_d＝7mm，寬W_d＝2mm，距離金屬板邊緣0.8mm。