[發明專利]確定Redriver芯片參數的方法和裝置

在審

• 申請號: 201710373580.2
• 申請日: 2017-05-24
• 公開（公告）號: CN107329774A
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發明（設計）人: 顧德強
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F9/445
• 分類號: G06F9/445;G06F11/22
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司11329
• 代理人: 張振,張欣

1.一種確定Redriver芯片參數的方法，其特征在于，包括：

控制器為Redriver芯片配置參數；

所述控制器通知所述Redriver芯片對應的中央處理器CPU啟動信號測試，以得到測試參數，其中，所述測試參數用于指示所述Redriver芯片配置所述參數時所述CPU接收到的信號的質量；

所述控制器接收所述CPU發送的所述測試參數；

所述控制器根據所述測試參數的參數值，確定Redriver芯片的目標參數。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述測試參數的參數值，確定Redriver芯片的目標參數，包括：

在所述測試參數的參數值大于預設閾值的情況下，所述控制器將所述參數確定為所述目標參數。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述參數包括第一參數至第N參數，所述測試參數包括第一測試參數至第N測試參數，其中，第i參數對應第i測試參數，N為大于1的整數，i為小于等于N且大于等于1的整數，

所述控制器根據所述測試參數的參數值，確定Redriver芯片的目標參數，包括：

所述控制器從所述第一測試參數至第N測試參數中確定目標測試參數，所述目標測試參數的參數值大于所述第一測試參數至第N測試參數中的其它參數的參數值；

所述控制器將所述目標測試參數對應的參數確定為所述目標參數。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述控制器從所述第一測試參數至第N測試參數中確定目標測試參數，包括：

所述控制器采用冒泡法從所述第一測試參數至第N測試參數中確定所述目標測試參數。

5.如權利要求1-4中任一項所述的方法，所述控制器為Redriver芯片配置參數，包括：

所述控制器通過內部整合電路I2C總線為所述Redriver芯片配置參數。

6.如權利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，所述參數包括預加重參數、均衡參數、擺幅參數、去加重參數中的至少一種。

7.一種確定Redriver芯片參數的裝置，其特征在于，包括：

配置模塊，用于為Redriver芯片配置參數；

通信模塊，用于通知所述Redriver芯片對應的中央處理器CPU啟動信號測試，以得到測試參數，其中，所述測試參數用于指示所述Redriver芯片配置所述驅動參數時所述CPU接收到的信號的質量；

所述通信模塊還用于接收所述CPU發送的所述測試參數；

處理模塊，用于根據所述測試參數的參數值，確定Redriver芯片的目標驅動參數。

8.如權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于：

在所述測試參數的參數值大于預設閾值的情況下，將所述參數確定為所述目標參數。

9.如權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述參數包括第一參數至第N參數，所述測試參數包括第一測試參數至第N測試參數，其中，第i參數對應第i測試參數，N為大于1的整數，i為小于等于N且大于等于1的整數，所述處理模塊具體用于：

從所述第一測試參數至第N測試參數中確定目標測試參數，所述目標測試參數的參數值大于所述第一測試參數至第N測試參數中的其它參數的參數值；

將所述目標測試參數對應的參數確定為所述目標參數。

10.如權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊具體用于：

采用冒泡法從所述第一測試參數至第N測試參數中確定所述目標測試參數。

11.如權利要求7-10中任一項所述的裝置，所述配置模塊具體用于通過內部整合電路I2C總線為所述Redriver芯片配置參數。

12.如權利要求7-11中任一項所述的裝置，其特征在于，所述參數包括預加重參數、均衡參數、擺幅參數、去加重參數中的至少一種。