[發明專利]測量方法及電子設備

在審

• 申請號: 201710373104.0
• 申請日: 2017-05-24
• 公開（公告）號: CN107314761A
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發明（設計）人: 洪帆;羅綠梅;李玲;劉雄
• 申請（專利權）人: 上海與德科技有限公司
• 主分類號: G01C11/04
• 分類號: G01C11/04
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙)31260
• 代理人: 胡麗莉

1.一種測量方法，應用于電子設備，其特征在于，所述測量方法包括：

獲取拍攝位置處的電子設備的攝像頭與參考平面之間的第一距離h；其中，所述參考平面為同時垂直于所述電子設備以及被測物，且與所述被測物相接觸的平面；

在所述拍攝位置拍攝得到所述被測物的圖像；

在所述圖像中確定所述被測物上與待測量的第二距離H對應的起始線位置、終止線位置以及所述被測物與所述參考平面的交線位置；

計算得到所述起始線和所述終止線之間的第一像素高度a，以及所述電子設備的顯示屏幕的中心線和所述交線之間的第二像素高度b；

根據所述第一距離h、所述第一像素高度a以及所述第二像素高度b計算得到所述第二距離H。

2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述根據所述第一距離h、所述第一像素高度a以及所述第二像素高度b計算得到所述第二距離H，具體包括：

根據以下公式計算得到所述第二距離H：

H＝h*a/b。

3.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述獲取拍攝位置處的電子設備的攝像頭與參考平面之間的第一距離h，具體包括：

在所述第一距離h的獲取方式為自動方式時，讀取預設的距離值作為所述第一距離h；其中，所述預設的距離值為電子設備的攝像頭與電子設備的邊緣之間的距離，所述邊緣在拍攝所述圖像時平行且靠近所述參考平面。

4.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述獲取拍攝位置處的電子設備的攝像頭與參考平面之間的第一距離h，具體包括：

在所述第一距離h的獲取方式為輸入方式時，接收用戶輸入的距離值作為所述第一距離h；其中，所述輸入的距離值由用于根據所述拍攝位置預先確定。

5.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述獲取拍攝位置處的電子設備的攝像頭與參考平面之間的第一距離h，具體包括：

在所述第一距離h的獲取方式為實測方式時，

實時獲取所述電子設備從接觸于所述參考平面的位置移動至所述拍攝位置的過程中所述電子設備的三軸加速度，并計算得到所述三軸加速度在重力方向上的加速度分量，并對獲取的加速度分量積分得到所述電子設備在重力方向上移動的第三距離；

在所述參考平面為水平面時，將所述第三距離與預設的距離值之和作為所述第一距離h；其中，所述預設的距離值為電子設備的攝像頭與電子設備的邊緣之間的距離，所述邊緣在拍攝所述圖像時平行且靠近所述參考平面。

6.根據權利要求5所述的測量方法，其特征在于，所述測量方法還包括：

在所述參考平面為非水平面時，檢測得到所述參考平面和水平面之間的夾角α；

計算得到所述第三距離與cosα的商，并將所述第三距離與cosα的商以及所述預設的距離值之和作為所述第一距離h。

7.根據權利要求5所述的測量方法，其特征在于，所述并對獲取的加速度分量積分得到所述電子設備在重力方向上移動的第三距離前，還包括：

當預設時間內所述三軸加速度的變化量小于預設閾值時，判定所述電子設備移動至所述拍攝位置。

8.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述在所述拍攝位置拍攝得到所述被測物的圖像，具體包括：

實時檢測所述電子設備的傾角，并根據所述傾角判斷所述電子設備是否垂直于所述參考平面；

在判斷出所述電子設備垂直于所述參考平面時，拍攝得到所述被測物的圖像。

9.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述在所述圖像中確定所述被測物上與待測量的第二距離H對應的起始線位置、終止線位置以及所述被測物與所述參考平面的交線位置，具體包括：

在顯示有所述圖像的顯示界面中添加用于確定所述起始線的位置的第一滑動線、用于確定所述終止線的位置的第二滑動線、以及用于確定所述交線的位置的第三滑動線；

響應于用戶的滑動操作移動所述第一滑動線、第二滑動線以及第三滑動線，并在移動結束時，將所述第一滑動線、第二滑動線以及第三滑動線的停留位置作為所述起始線位置、終止線位置以及交線位置。

10.一種電子設備，其特征在于，包括：

至少一個處理器；以及，

與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行如權利要求1-9中任一所述的測量方法。