[發明專利]光學系統及自動光學檢測設備

在審

• 申請號: 201710369972.1
• 申請日: 2017-05-23
• 公開（公告）號: CN107228859A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 鮑杰
• 申請（專利權）人: 昆山國顯光電有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/956
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224
• 代理人: 唐清凱

技術領域

本發明涉及光學領域，特別是涉及一種光學系統及自動光學檢測設備。

背景技術

AOI(Automatic Optic Inspection)的全稱是自動光學檢測，是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。當自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)，采集圖像，將測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較，經過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來，供維修人員修整。

然而，在測試過程中，光源的光強通常會隨時間發生變化，例如隨時間衰減，從而影響掃描圖像的質量，進而影響檢測效果。

發明內容

基于此，有必要針對光源的光強隨時間發生變化而影響檢測效果的問題，提供一種光學系統及自動光學檢測設備。

一種光學系統，所述光學系統包括光源；所述自動光學檢測設備還包括影像獲取裝置，且所述影像獲取裝置用于對待測板進行掃描以得到掃描圖像；所述光學系統還包括亮度控制裝置；所述亮度控制裝置根據所述光源的光強隨時間變化的特性，每隔設定時間段調整一次所述光源的光強，以降低檢測過程中照射至所述待測板的實際光強與所述光強的初始設定值之間的差值。

在其中一個實施例中，所述光源的光強隨時間衰減。

在其中一個實施例中，所述亮度控制裝置根據所述光源的光強隨時間衰減的特性，每隔設定時間段增強一次所述光源的光強。

在其中一個實施例中，所述亮度控制裝置包括計時器和光調制模塊；所述計時器和所述光調制模塊電連接；

所述計時器向所述光調制模塊提供實時的時間信息；所述光調制模塊根據所述時間信息及所述光源的光強隨時間變化的特性識別所述光源當前的光強，并根據所述識別的結果實時調整所述光源的光強，以降低檢測過程中照射至所述待測板的實際光強與所述光強的初始設定值之間的差值。

在其中一個實施例中，所述光調制模塊包括電光調制器和控制單元；所述電光調制器與所述控制單元電連接；并且，所述控制單元與所述計時器連接；

所述電光調制器用于對所述光源進行調制；所述控制單元根據所述時間信息及所述光源的光強隨時間變化的特性識別所述光源當前的光強，并根據識別的結果實時調整加載至所述電光調制器的電壓，以降低檢測過程中照射至所述待測板的實際光強與所述光強的初始設定值之間的差值。

一種自動光學檢測設備，包括光源及影像獲取裝置，所述影像獲取裝置用于對待測板進行掃描以得到掃描圖像；所述自動光學檢測設備還包括亮度控制裝置；所述亮度控制裝置根據所述光源的光強隨時間變化的特性，每隔設定時間段調整一次所述光源的光強，以降低檢測過程中照射至所述待測板的實際光強與所述光強的初始設定值之間的差值。

在其中一個實施例中，所述光源的光強隨時間衰減。

在其中一個實施例中，所述亮度控制裝置根據所述光源的光強隨時間衰減的特性，每隔設定時間段增強一次所述光源的光強。

在其中一個實施例中，所述亮度控制裝置包括計時器和光調制模塊；所述計時器和所述光調制模塊電連接；

所述計時器向所述光調制模塊提供實時的時間信息；所述光調制模塊根據所述時間信息及所述光源的光強隨時間變化的特性識別所述光源當前的光強，并根據所述識別的結果實時調整所述光源的光強，以降低檢測過程中照射至所述待測板的實際光強與所述光強的初始設定值之間的差值。

在其中一個實施例中，所述光調制模塊包括電光調制器和控制單元；所述電光調制器和所述控制單元電連接；并且，所述控制單元與所述計時器連接；

所述電光調制器用于對所述光源進行調制；所述控制單元根據所述時間信息及所述光源的光強隨時間變化的特性識別所述光源當前的光強，并根據識別的結果實時調整加載至所述電光調制器的電壓，以降低檢測過程中照射至所述待測板的實際光強與所述光強的初始設定值之間的差值。

上述光學系統及自動光學檢測設備具有的有益效果為：在該光學系統及自動光學檢測設備中，亮度控制裝置根據光源的光強隨時間變化的特性，每隔設定時間段調整一次光源的光強，以降低檢測過程中照射至待測板的實際光強與光強的初始設定值之間的差值，從而能夠改善光源的光強隨時間發生變化而影響檢測效果的問題，提高了檢測的精度。

附圖說明