[發明專利]一種RTC晶振的檢測方法有效
| 申請號： | 201710369759.0 | 申請日： | 2017-05-23 |
| 公開（公告）號： | CN107219395B | 公開（公告）日： | 2019-06-18 |
| 發明（設計）人： | 田周鵬 | 申請（專利權）人： | 鄭州云海信息技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R23/02 | 分類號： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105 | 代理人： | 王汝銀 |
| 地址： | 450018 河南省鄭州市*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 rtc 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種RTC晶振的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1：通過I/O端口讀取CMOS RAM狀態寄存器A、B、C的設置，并將讀取到的數據保存；
S2：設置寄存器A，實現測試過程中的中斷能夠發出和時鐘連續更新；
S3：設置寄存器B中的中斷標志位，使鬧鐘中斷有效；
S4：讀取當前的CMOS時間，記為start_time；
S5：將CMOS時間調快；
S6：檢查鬧鐘中斷標志位在寄存器C中是否有效；
S7：設定鬧鐘中斷發出；
S8：檢查鬧鐘中斷是否發出，如果發出，讀取CMOS時間，記為end_time；如果end_time減去start_time不等于步驟S5中CMOS的調快時間，則表示RTC晶振震蕩有問題；反之，則表示RTC晶振震蕩合格。
2.根據權利要求1所述的一種RTC晶振的檢測方法，其特征在于，所述步驟S8中，在RTC晶振震蕩經過檢測合格時，將步驟S1保存的CMOS RAM的狀態寄存器A、B、C的數據，恢復到相應的寄存器中去。
3.根據權利要求1所述的一種RTC晶振的檢測方法，其特征在于，所述步驟S5中，CMOS時間調快1～5秒。
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