[發明專利]一種LED光電熱特性的測試系統及其應用

有效

• 申請號: 201710366440.2
• 申請日: 2017-05-23
• 公開（公告）號: CN107015134B
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 孔繁敏;張寧
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219
• 代理人: 葉亞林

1.一種進行LED光電熱特性測試的方法，基于一種LED光電熱特性的測試系統，包括計算機、電源模塊、電熱測試模塊和光學測試模塊；計算機分別用與電源模塊、電熱測試模塊和光學測試模塊連接；所述電源模塊還分別與電熱測試模塊和光學測試模塊連接；所述電源模塊包括電源電表和電源供應器；所述電熱測試模塊包括恒溫腔、加熱裝置和溫度控制器，恒溫腔內設置有LED；所述光學測試模塊包括積分球和光譜儀；所述電源電表分別與計算機和LED連接，計算機通過電源供應器與加熱裝置連接；所述溫度控制器分別與加熱裝置和計算機連接；所述積分球分別與光譜儀和LED連接，所述光譜儀與計算機連接；

其特征在于，包括步驟如下：

1)將標準光源放置于積分球的LED燈座，接通標準光源的電源，對積分球進行校準；

2)將LED放入恒溫腔中，接通電源點亮LED，測量LED正向電壓-脈沖電流-LED發光溫度-LED光譜數據關系；

A1、設置恒溫腔溫度，待LED發光溫度與恒溫腔溫度平衡后，所述電源電表供給LED脈沖電流，測量電源電表發送的LED正向電壓；依次增加脈沖電流的電流值，測量同一恒溫腔溫度下，不同脈沖電流對應的LED正向電壓；設置下一個恒溫腔溫度；

A2、重復步驟A1直至達到恒溫腔溫度的上限，得到恒溫腔溫度-LED正向電壓/脈沖電流數據關系；

A3、所述電源電表供給LED恒定電流，LED發出的光譜投入積分球內，光譜儀對不同時間點的LED光譜數據進行測量，得到LED光譜-LED正向電壓/恒定電流的數據關系；

A4、將步驟A3得到的LED光譜-LED正向電壓/恒定電流的數據關系與步驟A2測得的恒溫腔溫度-LED正向電壓/脈沖電流數據關系進行比對，以“LED正向電壓/恒定電流”與“LED正向電壓/脈沖電流”相等為橋梁，得到同一恒定電流下，不同LED發光溫度對應的LED光譜；

A5、待LED發光溫度降回室溫，增加供給LED的恒定電流，恒定電流的增量為50mA；

A6、重復步驟A3-A5，直至LED的恒定電流增加至700mA，根據步驟A4中得出的同一恒定電流下不同LED發光溫度對應的LED光譜，得到LED正向電壓-脈沖電流-LED發光溫度-LED光譜的關系。

2.根據權利要求1所述的LED光電熱特性測試的方法，其特征在于，所述步驟A3中，所述光譜儀分別對LED點亮后第5秒、第10秒、第15秒、第20秒、第25秒、第30秒、第35秒、第40秒、第45秒、第50秒、第60秒、第120秒、第180秒、第240秒、第300秒、第1800秒的LED光譜數據進行測量。

3.根據權利要求1所述的LED光電熱特性測試的方法，其特征在于，所述恒溫腔溫度是指恒溫腔中用于測試LED的溫度，恒溫腔溫度的溫度范圍為30℃～120℃。

4.根據權利要求1所述的LED光電熱特性測試的方法，其特征在于，所述步驟A1中，依次增加脈沖電流值至150mA、200mA、250mA、300mA、350mA、400mA、450mA、500mA、550mA、600mA、650mA、700mA。

5.根據權利要求1所述的LED光電熱特性測試的方法，其特征在于，所述步驟A1中，通過計算機設置恒溫腔溫度；下一個恒溫腔溫度比當前的恒溫腔溫度高20℃；通過計算機測量電源電表發送的LED正向電壓；通過計算機測量同一恒溫腔溫度下，不同脈沖電流對應的LED正向電壓。

6.根據權利要求1所述的LED光電熱特性測試的方法，其特征在于，所述步驟A3中，計算機控制所述電源電表供給LED恒定電流；計算機處理得到LED光譜-LED正向電壓/恒定電流的數據關系；光譜儀對不同時間點的LED光譜數據進行測量，并將LED光譜數據發送給計算機進行處理，得到LED光譜-LED正向電壓/恒定電流的數據關系；所述步驟A4中，計算機將步驟A3得到的LED光譜-LED正向電壓/恒定電流的數據關系與步驟A2測得的恒溫腔溫度-LED正向電壓/脈沖電流數據關系進行比對。