[發明專利]一種基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置

在審

• 申請號: 201710365911.8
• 申請日: 2017-05-23
• 公開（公告）號: CN107121441A
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 孫智權;張千;江帥
• 申請（專利權）人: 鎮江蘇儀德科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于無損檢測領域，具體涉及到一種基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置。

背景技術

在SOP芯片器件生產過程中，芯片的外觀質量檢測是其中一項必不可少的環節，目前集成電路的SOP芯片外觀質量檢測主要采用人工目檢方法，工作強度大，容易造成誤檢，而且檢測速度和精度較低，使得檢測效率低、無法滿足企業不規模生產的要求，上述因素在較大程度上制約了我國IC集成芯片生產行業的發展。

目前，一些固有的缺陷在一定程度上也限制了SOP芯片檢測的準確性，比如檢測裝置。

發明內容

發明目的：針對上述問題，本發明的目的是提供一種基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置，該裝置可基于嵌入式視覺進行SOP芯片引腳的缺陷檢測，能夠有效地實現檢測方法的智能化和自動化，提高微觀級別工藝檢測精度和效率，穩定性好、降低檢測成本。

技術方案：為實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置，其包括相機、光源、圖像采集卡、PC機、單片機、操作臺、運動控制卡及圖像處理VC源代碼，其特征在于：

所述的相機及所述的圖像采集卡獲取SOP芯片圖像，同時所述的PC機與所述的單片機連接，所述的單片機控制所述的運動控制卡，進而控制操作臺的運動，圖像傳輸給所述的PC機，所述的PC機的VC程序完成圖像的預處理、模板匹配及缺陷分析，執行完整的檢測動作。

所述的光源為條形光源。

所述的單片機采用51單片機，程序編寫簡單、功能強大。

有益效果：與現有技術相比，提供一種基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置，該裝置可基于嵌入式視覺進行SOP芯片引腳的缺陷檢測，能夠有效地實現檢測方法的智能化和自動化，提高微觀級別工藝檢測精度和效率，穩定性好、降低檢測成本。

附圖說明

圖1是基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置示意圖；

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例，進一步闡明本發明。

如圖1所示，一種基于嵌入式視覺的SOP芯片引腳缺陷檢測裝置，其包括相機、光源、圖像采集卡、PC機、單片機、操作臺、運動控制卡及圖像處理VC源代碼，其特征在于：

相機及圖像采集卡獲取SOP芯片圖像，同時PC機與單片機連接，單片機控制運動控制卡，進而控制操作臺的運動，圖像傳輸給PC機，PC機的VC程序完成圖像的預處理、模板匹配及缺陷分析，執行完整的檢測動作。

光源為條形光源，提供更均勻的照明，也能避免物體的反光。

單片機采用51單片機，程序編寫簡單、功能強大。。