[發明專利]一種OLED微型顯示器自動檢測系統及方法

在審

• 申請號: 201710365135.1
• 申請日: 2017-05-22
• 公開（公告）號: CN107316594A
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發明（設計）人: 茆勝
• 申請（專利權）人: 茆勝
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01J1/42;G01D21/02
• 代理公司: 深圳市瑞方達知識產權事務所(普通合伙)44314
• 代理人: 郭方偉,馮小梅

技術領域

本發明涉及OLED檢測技術領域，更具體地說，涉及一種OLED微型顯示器自動檢測系統及方法。

背景技術

有機發光二極管(Organic-Emitting Diode，簡稱OLED)顯示器由于具有低功耗、寬視角、主動發光、易于實現柔性制造等優點受到了人們越來越多的關注，并將成為繼TFT-LCD后的下一代顯示器。由于OLED面板的制備過程較為復雜，最終得到的面板難免會出現一些缺陷，因此對生產線上初步完成的OLED面板進行缺陷檢測是OLED面板生產流程中非常重要的步驟，是產品良率和質量的重要保證。

長期以來，OLED顯示器的顯示缺陷檢驗都是采用人工的方式進行，而對于OLED微型顯示器來講，由于其具有尺寸小(小于1英寸)，分辨率高(不低于800×600)等特點，肉眼直接判斷產品是否合格不具有可操作性，通常檢驗人員需使用亮度計，萬用表，測試板等多個工具，通過人工計算和比較的方法檢查判斷顯示器是否合格，假如客戶有特殊配對使用需求時，需要將大量顯示器重新檢驗，這種方式花費時間長，檢驗效率低，且檢驗結果受檢驗員的視力、情緒、責任心、經驗、疲勞程度等影響較大，檢驗一致性較差。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，針對現有技術的上述缺陷，提供一種OLED微型顯示器自動檢測系統及方法。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：構造一種OLED微型顯示器自動檢測系統，所述OLED微型顯示器自動檢測系統包括：

測試治具，用于固定和驅動所述OLED微型顯示器；

數據獲取單元，與所述測試治具上相應的接觸針連接，自動獲取所述OLED微型顯示器的性能參數；所述數據獲取單元包括電流參數獲取模塊和光學參數獲取模塊；所述光學參數獲取模塊針對所述測試治具上方具有檢測區域；

以及與所述數據獲取單元通信連接的上位機；

所述上位機包括：

數據處理單元，與所述數據獲取單元連接，處理并存儲所述數據獲取單元獲取的性能參數，以提供可用于管理或應用的性能參數。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測系統中，優選地，所述電流參數獲取模塊包括：

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測系統中，優選地，通過數據線纜與所述數據處理單元連接，用于根據所述上位機的控制指令采集所述OLED微型顯示器的工作電流。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測系統中，優選地，所述光學參數獲取模塊包括：

亮度計，通過數據線纜與所述數據處理單元連接，用于根據所述上位機的控制指令采集位于所述檢測區域內的所述OLED微型顯示器的亮度及色坐標。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測系統中，優選地，所述亮度計的光軸與所述測試治具的測試面相垂直，且所述亮度計與所述OLED微型顯示器相離。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測系統中，優選地，所述OLED微型顯示器自動檢測系統還包括數據管理單元，與所述數據處理單元連接，對所述性能參數進行存儲、查詢或數據分析。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測系統中，優選地，所述上位機還包括與所述數據處理單元和數據管理單元連接的、用于將所述數據管理單元存儲、查詢或數據分析的結果進行顯示的顯示單元。

本發明還提供一種OLED微型顯示器自動檢測方法，該自動檢測方法基于上述的自動檢測系統，按以下步驟進行自動檢測：

S1、將所述OLED微型顯示器置于檢測區域內，驅動點亮所述OLED微型顯示器；

S2、獲取所述OLED微型顯示器的性能參數，所述性能參數包括電流參數和光學參數；

S3、處理并存儲所述性能參數，以提供可用于管理或應用的性能參數。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測方法中，優選地，在所述步驟S2中，所述電流參數通過萬用表進行數據采集；所述光學參數通過亮度計進行數據采集，其中，所述光學參數包括亮度及色坐標。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測方法中，優選地，在所述步驟S3之后還包括：

S4、對所述性能參數進行存儲、查詢或數據分析。

在本發明所述的OLED微型顯示器自動檢測方法中，優選地，在所述步驟S4之后還包括：

S5、對所述性能數據進行存儲、查詢或數據分析的結果進行顯示。