[發(fā)明專利]測試標靶和相應的鏡頭MTF檢測系統(tǒng)及方法

有效

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• 申請日: 2017-05-22
• 公開（公告）號: CN108931357B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發(fā)明（設計）人: 范立權;朱金獻;鮑遠剛;毛冬冬
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇車載光學技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;王艷春

本發(fā)明提供了一種測試標靶，包括標靶本體；MTF測試圖案，在所述標靶本體上由狹縫形成；以及畸變矯正圖案，在所述標靶本體上由狹縫形成，并與所述MTF測試圖案相互錯開，所述MTF測試圖案的中心與第一原點之間的距離等于所述畸變矯正圖案的中心與第二原點之間的距離，所述第一原點用于在MTF測試中對準待測鏡頭的光軸，所述第二原點用于在畸變矯正測試中對準待測鏡頭的光軸。本發(fā)明還提供了相應的MTF測試系統(tǒng)及方法。本發(fā)明能夠將狹縫法檢測MTF所需用到的不同功能的標靶集成于一體，節(jié)約了成本；能夠在檢測MTF的過程中將標靶一次安裝到位，提高了操作的便利性；并且對不同EFL的鏡頭兼容性強。

技術領域

本發(fā)明涉及光學鏡頭檢測技術領域，具體地說，本發(fā)明涉及一種測試標靶和相應的光學鏡頭圖像檢測方法及系統(tǒng)。

背景技術

隨著光電檢測器件性能的不斷提高和計算機技術的高速發(fā)展，光學檢查鏡頭在工業(yè)自動化檢測系統(tǒng)中得到了廣泛應用，對鏡頭成像質量的要求也越來越高。MTF(Modulation Transfer Function，調制傳遞函數)是目前分析鏡頭解像力比較科學的方法，已成為行業(yè)公認的評價成像系統(tǒng)的重要指標。

目前，國內外出現了許多用于工業(yè)生產檢測以及院校、科研單位實驗室應用的多種不同類型的MTF測試儀，例如德國TROPTICS公司生產的ImageMaster系列測試儀。其中，ImageMaster Pro測試儀適用于小鏡頭大批量生產的在線MTF檢測。

ImageMaster Pro測試儀通過采集狹縫圖像計算MTF信息。為獲取狹縫圖像，需要一個用于MTF測試的狹縫標靶A，圖1示出了狹縫標靶A的一個示例。由于非軸上視場存在畸變，還需要一個與狹縫標靶A配套的用于計算畸變矯正系數的畸變矯正標靶B，圖2示出了與圖1的狹縫標靶A對應的畸變矯正標靶B的一個示例。在進行MTF測試時，先在ImageMasterPro測試儀中安裝畸變矯正標靶B獲取畸變矯正系數，然后取下畸變矯正標靶B，在對應位置安裝狹縫標靶A進行MTF測試，最后結合相應的畸變矯正系數計算不同視場不同位置的所有MTF值。

上述通過采集狹縫圖像計算MTF信息的方案能夠實現大批量在線MTF檢測，并且測試精度高、重復性好。然而，該方案為完成一次MTF測試需要加工兩個標靶，增加成本，且需要在測試過程中多次安裝標靶，不能一次測試完成。另一方面，該方案中，畸變矯正標靶還存在不能兼容EFL(Effective Focal Length，有效焦距)差異大的鏡頭的問題。例如，對于圖2所示的畸變矯正標靶B，當待測鏡頭的EFL過小時，成像會超出像面，導致畸變矯正系數無法計算，當EFL過大時，成像過小，影響畸變矯正的精度。

發(fā)明內容

本發(fā)明旨在提供一種能夠克服現有技術的上述至少一個缺陷的MTF檢測解決方案。

根據本發(fā)明的一個方面，提供了一種測試標靶，包括標靶本體及設置在所述標靶本體上的用于在MTF測試中對準待測鏡頭光軸的第一原點、由狹縫組成的MTF測試圖案、用于在畸變矯正測試中對準待測鏡頭光軸的第二原點以及由狹縫組成的畸變矯正圖案；所述MTF測試圖案的中心與第一原點之間的距離等于所述畸變矯正圖案的中心與第二原點之間的距離；所述畸變矯正圖案與所述MTF測試圖案的位置相互錯開。

在一個實施例中，所述MTF測試圖案為十字狹縫。

在一個實施例中，所述標靶本體的第一原點位置處設置有雙十字狹縫。

在一個實施例中，所述畸變矯正圖案是由狹縫構成的方形框。