[發(fā)明專利]全張量磁場梯度測量組件及制備方法有效
申請?zhí)枺?/td> | 201710363781.4 | 申請日: | 2017-05-22 |
公開(公告)號: | CN107329098B | 公開(公告)日: | 2019-09-24 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王會武;張棲瑜;劉全勝;應(yīng)利良;王鎮(zhèn) | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 |
主分類號: | G01R33/00 | 分類號: | G01R33/00;G01R33/022;H01L39/24 |
代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 唐棉棉 |
地址: | 200050 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 張量 磁場 梯度 測量 組件 制備 方法 | ||
1.一種全張量磁場梯度測量組件的制備方法,其特征在于,所述制備方法至少包括:
首先提供一襯底,然后在所述襯底上至少制備形成第一SQUID器件、第二SQUID器件、第三SQUID器件、第四SQUID器件、第五SQUID器件以及第一梯度線圈、第二梯度線圈、第三梯度線圈、第四梯度線圈、第五梯度線圈,其中,所述第一梯度線圈與所述第一SQUID器件相連,用于測量Gxx磁場梯度分量;所述第二梯度線圈與所述第二SQUID器件相連,用于測量Gyy磁場梯度分量;所述第三梯度線圈與所述第三SQUID器件相連,用于測量Gyx磁場梯度分量;所述第四梯度線圈與所述第四SQUID器件相連,用于測量Gzx磁場梯度分量;所述第五梯度線圈與所述第五SQUID器件相連,用于測量Gzy磁場梯度分量;
其中,所述第一梯度線圈包括兩個(gè)線圈且所述兩個(gè)線圈的法線方向與X軸方向平行且中心連線與X軸方向平行;所述第二梯度線圈包括兩個(gè)線圈且所述兩個(gè)線圈的法線方向與Y軸方向平行且中心連線與Y軸方向平行;所述第三梯度線圈包括兩個(gè)線圈且所述兩個(gè)線圈的法線方向與Y軸方向平行且中心連線與X軸方向平行;所述第四梯度線圈包括兩個(gè)線圈且所述兩個(gè)線圈的法線方向與Z軸方向平行且中心連線與X軸方向平行;所述第五梯度線圈包括兩個(gè)線圈且所述兩個(gè)線圈的法線方向與Z軸方向平行并且中心連線與Y軸方向平行。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全張量磁場梯度測量組件的制備方法,其特征在于:所述第一SQUID器件的制備方法包括步驟:
1)于所述襯底上依次外延生長第一超導(dǎo)材料層、第一絕緣材料層、第二超導(dǎo)材料層的三層薄膜結(jié)構(gòu);
2)刻蝕所述三層薄膜結(jié)構(gòu),以形成超導(dǎo)環(huán)和底電極;
3)刻蝕所述底電極上的部分所述第二超導(dǎo)材料層和第一絕緣材料層以形成約瑟夫森結(jié);
4)在步驟3)形成的結(jié)構(gòu)表面形成第二絕緣材料層,開孔以露出所述約瑟夫森結(jié)的第二超導(dǎo)材料層表面、底電極表面;
5)沉積第三超導(dǎo)材料層,并刻蝕所述第三超導(dǎo)材料層形成頂電極和輸入線圈,所述頂電極用于引出所述約瑟夫森結(jié)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的全張量磁場梯度測量組件的制備方法,其特征在于:所述第二SQUID器件、第三SQUID器件、第四SQUID器件以及第五SQUID器件的制備方法與所述第一SQUID器件的制備方法相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的全張量磁場梯度測量組件的制備方法,其特征在于:所述第一梯度線圈的制備方法包括:
在步驟2)中,形成所述超導(dǎo)環(huán)和底電極的同時(shí),刻蝕所述三層薄膜結(jié)構(gòu),形成多條底層梯度線圈層;
在步驟3)中,形成所述約瑟夫森結(jié)的同時(shí),刻蝕去除所述多條底層梯度線圈層上的所述第二超導(dǎo)材料層和第一絕緣材料層;
在步驟4)中,開孔露出所述約瑟夫森結(jié)的第二超導(dǎo)材料層表面、底電極表面的同時(shí),開孔露出每條底層梯度線圈層的兩端表面;
在步驟5)中,形成所述頂電極、輸入線圈的同時(shí),刻蝕所述第三超導(dǎo)材料層形成多條頂層梯度線圈層,所述頂層梯度線圈層通過開孔連接相鄰兩條底層梯度線圈層,所述頂層梯度線圈層和底層梯度線圈層構(gòu)成第一梯度線圈,所述第一梯度線圈與所述輸入線圈相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的全張量磁場梯度測量組件的制備方法,其特征在于:所述第二梯度線圈的制備方法包括:
在步驟2)中,形成所述超導(dǎo)環(huán)和底電極的同時(shí),刻蝕所述三層薄膜結(jié)構(gòu),形成多條底層梯度線圈層;
在步驟3)中,形成所述約瑟夫森結(jié)的同時(shí),刻蝕去除所述多條底層梯度線圈層上的所述第二超導(dǎo)材料層和第一絕緣材料層;
在步驟4)中,開孔露出所述約瑟夫森結(jié)的第二超導(dǎo)材料層表面、底電極表面的同時(shí),開孔露出每條底層梯度線圈層的兩端表面;
在步驟5)中,形成所述頂電極、輸入線圈的同時(shí),刻蝕所述第三超導(dǎo)材料層形成多條頂層梯度線圈層,所述頂層梯度線圈層通過開孔連接相鄰兩條底層梯度線圈層,所述頂層梯度線圈層和底層梯度線圈層構(gòu)成第二梯度線圈,所述第二梯度線圈與所述輸入線圈相連。
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