[發明專利]一種非接觸模式突變結法測量單分子電學性能的方法在審
| 申請號： | 201710362486.7 | 申請日： | 2017-05-15 |
| 公開（公告）號： | CN107290590A | 公開（公告）日： | 2017-10-24 |
| 發明（設計）人： | 常帥;陳海艦;黃明柱;何勁;梁峰 | 申請（專利權）人： | 武漢科技大學 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02;G01R19/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 430081 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 接觸 模式 突變 測量 分子 電學 性能 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種非接觸模式突變結法測量單分子電學性能的方法，其特征在于它包括以下步驟：
(1)放置好襯底及待測分子溶液，初始化單分子識別儀的參數，包括針尖的移動方向、移動速度、移動距離，其中針尖的移動距離由手動設置單分子識別儀上setpoint值來控制；
(2)首先使針尖接近襯底并使針尖穩定在襯底上方，保持針尖與襯底的間距為納米級，針尖與襯底未接觸；
(3)待針尖穩定在襯底上方后，以針尖穩定的位置為起點，通過設置setpoint值，使針尖向遠離襯底的方向移動，在針尖移動的過程中，實時記錄回路反饋電流的大小及針尖移動的距離；
(4)自動重復步驟(2)和步驟(3)，重復的次數通過手動設定；
(5)將記錄的反饋電流大小及針尖移動距離數據保存，并輸出至打印機打印。
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