[發(fā)明專利]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器電磁兼容性結(jié)構(gòu)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710361027.7
• 申請(qǐng)日: 2017-05-22
• 公開（公告）號(hào): CN107041114A
• 公開（公告）日: 2017-08-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張海慶;陳振琳;唐波;郭榮斌;夏磊;何慶;張雷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
• 主分類號(hào): H05K9/00
• 分類號(hào): H05K9/00;G01D11/00
• 代理公司: 青島智地領(lǐng)創(chuàng)專利代理有限公司37252
• 代理人: 肖峰

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器電磁兼容性結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)

接口適配器在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中使用非常廣泛，它是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試資源與外部設(shè)備交互界面，適配過程要求的活動(dòng)空間大，縫隙多，隨著自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容要求不斷提升，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中圍繞接口適配器相關(guān)進(jìn)行的電磁兼容性設(shè)計(jì)成為重點(diǎn)。接口適配器周邊的電磁兼容性設(shè)計(jì)主要是進(jìn)行電磁輻射騷擾的抑制，設(shè)計(jì)核心目標(biāo)在于將適配器與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)密切可靠地進(jìn)行導(dǎo)電連接使之成為一個(gè)整體的屏蔽體。使用當(dāng)前市場(chǎng)貨架接口適配器產(chǎn)品情況下，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架間，以及接口適配器集線架與適配器安裝框架間會(huì)存在巨大的縫隙，而且這兩個(gè)界面均選用了不導(dǎo)電的表面處理工藝，這兩處縫隙是影響電磁屏蔽性能的關(guān)鍵位置。

現(xiàn)有技術(shù)在使用接口適配器過程中未能考慮到電磁兼容性方面的設(shè)計(jì)要求，使用接口適配器與實(shí)現(xiàn)高要求的電磁兼容性指標(biāo)相矛盾，尤其是當(dāng)要求GJB151A、GJB152A等相關(guān)條款時(shí)，電磁兼容性就成為無解的難題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)接口適配器集線架與適配器安裝框架間會(huì)存在巨大的縫隙，這兩處縫隙是影響電磁屏蔽性能的關(guān)鍵位置的不足，定位了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器周邊影響電磁兼容性的關(guān)鍵位置，并提出了一種對(duì)這兩處進(jìn)行全面的電磁兼容性處理的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器電磁兼容性結(jié)構(gòu)。

本發(fā)明具體采用如下技術(shù)方案：

一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器電磁兼容性結(jié)構(gòu)，包括自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板和接口適配器集線架，接口適配器集線架的一側(cè)與測(cè)試系統(tǒng)前端面板相對(duì)接，另一側(cè)連接接觸圍框，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架的接觸面進(jìn)行了導(dǎo)電氧化處理并貼敷第一導(dǎo)電布襯墊，使自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架的接觸面形成無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)，接口適配器集線架與接觸圍框的接觸面進(jìn)行了導(dǎo)電氧化處理處貼敷第二導(dǎo)電布襯墊，使接口適配器集線架與接觸圍框的接觸面形成無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)。

優(yōu)選地，所述接觸圍框上連有適配盒。

優(yōu)選地，所述接口適配器集線架與適配盒形成一個(gè)完整的屏蔽體。

本發(fā)明具有如下有益效果：

通過對(duì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架間進(jìn)行導(dǎo)電氧化處理并貼敷導(dǎo)電布襯墊，利用其彈性形成過盈配合的方式確保兩者間可靠無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)；通過將接口適配器集線架與適配器安裝框架間進(jìn)行導(dǎo)電氧化處理并貼敷導(dǎo)電布襯墊，利用其彈性形成過盈配合的方式確保兩者間可靠無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)，進(jìn)而使自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架、適配盒等形成一個(gè)完整的導(dǎo)電的屏蔽體，確保了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在接口適配器周邊具備良好的電磁兼容性，滿足了電磁騷擾的相關(guān)要求。

附圖說明

圖1為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器電磁兼容性結(jié)構(gòu)示意圖。

其中，1為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板，2為接口適配器集線架，3為接觸圍框，4為第一導(dǎo)電布襯墊，5為第二導(dǎo)電布襯墊，6為適配盒。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式做進(jìn)一步說明：

如圖1所示，一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中接口適配器電磁兼容性結(jié)構(gòu)，包括自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板1和接口適配器集線架2，接口適配器集線架2的一側(cè)與測(cè)試系統(tǒng)前端面板1相對(duì)接，另一側(cè)連接接觸圍框3，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板1與接口適配器集線架2的接觸面進(jìn)行了導(dǎo)電氧化處理并貼敷第一導(dǎo)電布襯墊4，使自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架的接觸面形成無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)，接口適配器集線架2與接觸圍框3的接觸面進(jìn)行了導(dǎo)電氧化處理處貼敷第二導(dǎo)電布襯墊5，使接口適配器集線架與接觸圍框的接觸面形成無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)。

接觸圍框3上連有適配盒6，接口適配器集線架2與適配盒6形成一個(gè)完整的屏蔽體。

通過對(duì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架間進(jìn)行導(dǎo)電氧化處理并貼敷導(dǎo)電布襯墊，利用其彈性形成過盈配合的方式確保兩者間可靠無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)；通過將接口適配器集線架與適配器安裝框架間進(jìn)行導(dǎo)電氧化處理并貼敷導(dǎo)電布襯墊，利用其彈性形成過盈配合的方式確保兩者間可靠無縫隙的導(dǎo)電連接狀態(tài)，進(jìn)而使自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)前面板與接口適配器集線架、適配盒等形成一個(gè)完整的導(dǎo)電的屏蔽體，確保了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在接口適配器周邊具備良好的電磁兼容性，滿足了電磁騷擾的相關(guān)要求。

當(dāng)然，上述說明并非是對(duì)本發(fā)明的限制，本發(fā)明也并不僅限于上述舉例，本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)范圍內(nèi)所做出的變化、改型、添加或替換，也應(yīng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。