[發明專利]電子元件測試系統

在審

• 申請號: 201710355965.6
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN108957034A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 林源記;謝志宏;林世芳
• 申請（專利權）人: 亞克先進科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/01
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 王玉雙;李巖

本發明揭示一種電子元件測試系統，包含機架、托盤置放區、測試區、前區移載裝置以及測試區移載裝置。托盤置放區鄰接設置于機架。測試區鄰接設置于機架上，包含電子元件測試裝置用以對一托盤內的電子元件進行測試。前區移載裝置可于托盤置放區及測試區內位移地設置于機架上，用以取置托盤于托盤置放區。測試區移載裝置可于測試區位移地設置于機架上，測試區移載裝置用以更換待測試的托盤與經測試后的托盤。

技術領域

本發明實施例系與測試系統有關，特別是有關于一種電子元件測試系統。

背景技術

按，隨著電子產業的發展越趨成熟，客戶端對于產品良率的要求也越來越高，因此，電子元件如集成電路(IC)經封裝完成后必須經過測試，測試后依測試結果進行分類(bin)，最后再依分類別做出貨或其他的處置。

而電子元件測試系統極為精密因此造價非常昂貴，因此，業者無不設法降低測試成本、提高測試產能。然而，一般的測試系統系在電子元件測試裝置的分布范圍內設置軌道，移載裝置滑走于軌道上取置承載有電子元件的測試托盤。當電子元件測試裝置內的測試托盤完成測試后，移載裝置由軌道位移至電子元件測試裝置取出已測試完成的測試托盤，并將已測試完成的測試托盤移載至存放已測試托盤的集放區。移載裝置將已測試完成的測試托盤移載至存放已測試托盤的集放區之后，再位移至存放有待測試托盤集放區的位置拾取待測試托盤。移載裝置拾取待測試托盤后再由軌道將待測試托盤送入電子元件測試裝置進行測試。電子元件測試系統即依上述步驟進行連續循環的測試工作。

由前述可知，當移載裝置將已測試托盤由電子元件測試裝置取走后，直到移載裝置再次拾取未測試裝置送入電子元件測試裝置的過程中，電子元件測試裝置因等待換盤的時間而成為閑置狀態，而此閑置狀態就造成提高測試產能的阻礙，因而亟待改善。

發明內容

本發明為一種電子元件測試系統，主要目的為改善一般電子元件測試系統測試效率仍待改善的缺失。

為達前述目的，本發明一實施例為一種電子元件測試系統，包含機架、托盤置放區、測試區、前區移載裝置以及測試區移載裝置。托盤置放區鄰接設置于機架。測試區鄰接設置于機架上，包含電子元件測試裝置用以對托盤內的電子元件進行測試。前區移載裝置可于托盤置放區及測試區內位移地設置于機架上，用以取置托盤于托盤置放區。測試區移載裝置可于測試區位移地設置于機架上，測試區移載裝置用以取置待測試的托盤于前區移載裝置并與經電子元件測試裝置測試后的托盤進行更換。

通過測試區移載裝置以及前區移載裝置可位移于測試區及托盤置放區的配置，以及測試區移載裝置可更換待測試托盤及已測試托盤的技術特征，藉此能快速交換已測試托盤及待測試托盤，減少電子元件測試裝置的測試空窗時間，大幅提高測試效率。

附圖說明

圖1為本發明電子元件測試系統的一實施例的配置圖。

圖2為本發明電子元件測試系統的前區移載裝置的一實施例的示意圖。

圖3為圖2的局部放大圖。

圖4為圖2實施例的動作示意圖。

圖5為本發明電子元件測試系統的測試區移載裝置的一實施例的示意圖。

圖6為圖5的局部放大圖。

圖7為圖5實施例的動作示意圖。

其中附圖標記為：

10機架 11第一延伸梁

12第二延伸梁 13支柱

14軌道 20托盤置放區

21操作臺 211操作面板

212窗口 22集料盤

30測試區 30A第一測試區