[發明專利]一種星載天線機械指向精度快速測量方法

有效

• 申請號: 201710355295.8
• 申請日: 2017-05-19
• 公開（公告）號: CN107121124B
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發明（設計）人: 鐘鳴;任振平;席春樹;金博;陳曉峰;周鑫;詹軍海
• 申請（專利權）人: 上海宇航系統工程研究所
• 主分類號: G01C1/04
• 分類號: G01C1/04
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 金家山

1.一種星載天線機械指向精度快速測量方法，其特征是，包括以下步驟：

1）在天線陣面粘貼若干反光標志點、反光編碼點及公共標志點；所述反光編碼點作為拼接圖像的標志點，在反光標志點之間均勻分布；

2）展開天線，在測量區域架設長度基準尺，用相機在天線陣面前拍攝若干張不同位置和方向的像片；

3）利用圖像處理軟件對反光標志點和公共標志點圖像特征提取和中心定位，對像點匹配和拼接，通過光束平差法計算反光標志點和公共標志點在相機測量坐標系下的三維點坐標；

4）架設2 臺經緯儀建站并測量公共標志點，獲得公共標志點在經緯儀測量坐標系下的三維點坐標；

5）通過公共標志點轉換，獲得反光標志點在經緯儀測量坐標系下的三維點坐標，以最小二乘法擬合計算天線陣面的法線，獲取法線方向與經緯儀測量坐標系的夾角；

6）1 臺經緯儀準直測量衛星基準棱鏡，獲得衛星基準棱鏡與水平面的夾角；三臺經緯儀互瞄，獲得方位角，最終通過計算獲得天線陣面的法線與衛星坐標系的機械指向精度。

2.根據權利要求1 所述的一種星載天線機械指向精度快速測量方法，其特征是，所述的反光標志點布置的位置可反映天線型面特征。

3.根據權利要求1 所述的一種星載天線機械指向精度快速測量方法，其特征是，所述的反光編碼點的數量≧4 個。

4.根據權利要求1 所述的一種星載天線機械指向精度快速測量方法，其特征是，所述的公共標志點能被相機和經緯儀共同識別，并且數量≧3 個。

5.根據權利要求1 所述的一種星載天線機械指向精度快速測量方法，其特征是，架設長度基準尺的長度≧1 米并與被測天線陣面保持相對靜止。