[發明專利]一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置

有效

• 申請號: 201710353794.3
• 申請日: 2017-05-18
• 公開（公告）號: CN107170400B
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 王迎;李蒙;陶健;李紅敏
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;H01L27/32
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本發明提供一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置，涉及顯示技術領域，用于對自發光顯示面板的像素電路中的信號線進行檢測。該電致發光顯示面板，包括：多個陣列排布的像素電路和多個用于對位于陣列的同一行的像素電路和/或位于陣列的同一列的像素電路所共用的待檢測信號線進行檢測的檢測單元；待檢測信號線的源端和遠端分別連接一個檢測單元；檢測單元包括：控制模塊和發光模塊；控制模塊連接待檢測信號線、控制電壓輸入端以及發光模塊，用于在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通或關斷發光模塊和待檢測信號線；發光模塊還連接第一電平端，用于在待檢測信號線的電壓和第一電平端的電壓的驅動下發光。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置。

背景技術

有機電致發光顯示(英文名稱：Organic Light-Emitting Diode,英文簡稱：OLED)產品具有對比度高、響應速度快、體積小、重量輕等優點，已開始逐漸取代傳統的液晶顯示(英文名稱：Liquid Crystal Display，英文簡稱：LCD)，越來越受到本領域研究人員的關注。

相比于傳統液晶顯示顯示裝置OLED的像素電路結構更加復雜，內部信號走線也更加密集繁多，因此在OLED制造過程中也更加可能出現數據線、柵線等信號線具有開路(英文名稱：Open)、短路(英文名稱：Short)等不良。雖然在OLED制造過程的前段可以通過工程調試(英文全稱：Engineering Trial，英文縮寫：ET)對OLED的像素電路出現的信號線不良進行檢測，但現有技術中缺乏對在模組段產生的信號線不良的解析方法。若具有信號線不良的OLED模組進入后續的生產制造工藝，則會造成大量材料和人力的浪費，增加OLED產品的制造成本。此外，由于無法及時、準確的檢測出信號線不良，因此對不良原因的分析也十分困難。綜上，如何對對OLED的像素電路中的信號線進行檢測是本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

本發明的實施例提供一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置，用于對自發光顯示的像素電路中的信號線進行檢測。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

第一方面，提供一種電致發光顯示面板，包括：多個陣列排布的像素電路和多個用于對位于所述陣列的同一行的像素電路和/或位于所述陣列的同一列的像素電路所共用的待檢測信號線進行檢測的檢測單元；所述待檢測信號線的源端和遠端分別連接一個所述檢測單元；

所述檢測單元包括：控制模塊和發光模塊；所述控制模塊連接所述待檢測信號線、控制電壓輸入端以及所述發光模塊，用于在所述控制電壓輸入端的電壓的控制下導通或關斷所述發光模塊和所述待檢測信號線；所述發光模塊還連接第一電平端，用于在所述待檢測信號線的電壓和所述第一電平端的電壓的驅動下發光。

可選的，所述控制模塊包括：第一晶體管；所述第一晶體管的第一極連接所述待檢測信號線，所述第一晶體管的第二極連接所述發光模塊，所述第一晶體管的柵極連接所述控制電壓輸入端；

所述發光模塊包括：發光二極管；所述發光二極管的陽極連接所述控制模塊；所述發光二極管的陰極連接所述第一電平端。

可選的，所述像素電路包括：第二晶體管、第三晶體管、第四晶體管、第一電容以及電致發光二極管；

所述第二晶體管的第一極連接第二電平端、所述第二晶體管的第二極連接所述電致發光二極管的陽極、所述第一電容的第一極、所述第四晶體管的第一極，所述第二晶體管的柵極連接所述第一電容的第二極和所述第三晶體管的第二極；

所述第三晶體管的第一極連接數據線、所述第三晶體管的柵極連接第一掃描信號線；

所述第四晶體管的第二極連接檢測線、所述第四晶體管的柵極連接第二掃描信號線；

所述電致發光二極管的陰極連接第一電平端。