[發明專利]一種不透明材料的光譜發射率測量裝置有效
| 申請號: | 201710353373.0 | 申請日: | 2017-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN107101994B | 公開(公告)日: | 2019-12-03 |
| 發明(設計)人: | 蔡靜;王苗;金振濤;孟蘇;董磊;楊永軍 | 申請(專利權)人: | 中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所 |
| 主分類號: | G01N21/71 | 分類號: | G01N21/71 |
| 代理公司: | 11120 北京理工大學專利中心 | 代理人: | 張利萍<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 100095*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 不透明 材料 光譜 發射 測量 裝置 | ||
1.一種不透明材料的光譜發射率測量裝置,其特征在于:包括環控箱、樣品加熱裝置、黑體參考裝置、傅里葉光譜儀、光柵光譜儀、平面鏡、平移臺、球面鏡、旋轉臺、冷卻水循環系統、抽真空系統和上位機;
連接關系為:平面鏡、平移臺、球面鏡、旋轉臺位于環控箱中;平面鏡固定在平移臺上,通過平面鏡的移動,切換傅里葉光譜儀和光柵光譜儀,完成中紅外、近紅外和可見光波段之間的測量;球面鏡固定在旋轉臺上,通過旋轉臺的轉動,切換樣品加熱裝置和黑體參考裝置之間的能量測量;樣品加熱裝置用來加熱樣品,黑體參考裝置提供發射率測量的參考信號;平移臺、旋轉臺通過位移控制器連接上位機,傅里葉光譜儀、光柵光譜儀連接上位機,冷卻水循環系統通過水管與環控箱連接,抽真空系統通過管路與環控箱連接;樣品加熱裝置、黑體參考裝置、平面鏡、球面鏡、光柵光譜儀光學鏡頭、傅里葉光譜儀光學鏡頭同軸同高安裝;控箱腔內的真空度不低于10-3Pa,且保持恒溫環境;
工作過程分為如下步驟:
步驟一,連接發射率測量裝置各器件,接通位移控制器、傅里葉光譜儀、光柵光譜儀、冷卻水循環系統和抽真空系統,其中傅里葉光譜儀和光柵光譜儀需開機預熱;
步驟二,啟動冷卻水循環系統和抽真空系統,溫度保持恒溫環境;
步驟三,將樣品安裝在樣品加熱裝置上,待測樣品加熱到Ts;待溫度穩定后,通過平移臺的切換,完成傅里葉光譜儀和光柵光譜儀的數據采集;
步驟四,將黑體參考裝置加熱到T1;待溫度穩定后,控制旋轉臺,將光路切換到黑體參考裝置處,通過平移臺的切換,完成傅里葉光譜儀和光柵光譜儀的數據采集;
步驟五,用同樣方法,分別采集黑體參考裝置和樣品不同溫度點下的光譜信號;
步驟六,上位機根據接收到的光譜儀的測量值,計算得到待測樣品的光譜發射率。
2.根據權利要求1所述的一種不透明材料的光譜發射率測量裝置,其特征在于:所述待測樣品的光譜發射率的計算方法如下步驟:
步驟一,建立公式:
Vb(υ,T1)=R(υ)Lb(υ,T1)+S(υ)
Vb(υ,T2)=R(υ)Lb(υ,T2)+S(υ) (1)
其中,ν是波數;Vb(ν,T1)和Vb(ν,T2)是高溫黑體參考裝置在溫度T1和T2下光譜儀采集的信號,Lb(ν,T)是高溫黑體參考裝置在T溫度下的光譜輻射亮度,R(ν)是光譜響應函數,S(ν)是儀器背景函數;
步驟二,通過解公式(1)得到光譜響應函數R(ν)和儀器背景函數S(ν);
步驟三,通過公式(2)得到待測樣品的光譜輻射亮度:
Vs(υ,Ts)=R(υ)Ls(υ,Ts)+S(υ) (2)
其中Vs(ν,Ts)是待測樣品在Ts溫度下光譜儀采集的信號,Ls(ν,Ts)是待測樣品在Ts溫度下的光譜輻射亮度;
步驟四,通過公式(2)得到待測樣品的光譜發射率:
Ls(υ,Ts)=εsLb(υ,Ts)+(1-εs)L(υ,Te) (3)
其中,Ls(ν,Ts)是待測樣品在Ts溫度下的光譜輻射亮度,Lb(ν,T)是高溫黑體參考裝置在Ts溫度下的光譜輻射亮度,為已知量;Te為環境溫度;L(ν,Te)為環境光譜輻射亮度,為已知量;εs是待測樣品的發射率。
3.根據權利要求1所述的一種不透明材料的光譜發射率測量裝置,其特征在于:所述的樣品加熱裝置采用分體或者一體式結構。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所,未經中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710353373.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種陶瓷類文物的鑒定方法
- 下一篇:一種測溫式中間接頭





