[發(fā)明專利]一種C接口函數(shù)的測試方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710352233.1
• 申請日: 2017-05-18
• 公開（公告）號: CN107247665B
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張紅嬌;張慶勇;李偉
• 申請（專利權(quán)）人: 北京信安世紀(jì)科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種C接口函數(shù)的測試方法，其特征在于，包括：

測試系統(tǒng)確定滿足預(yù)設(shè)的測試條件的情況下，基于預(yù)先配置的測試數(shù)據(jù)信息庫，生成執(zhí)行隊列和數(shù)據(jù)隊列，其中，所述執(zhí)行隊列包含所述測試數(shù)據(jù)信息庫中記錄的所有C接口函數(shù)的函數(shù)名稱，所述數(shù)據(jù)隊列包含所述測試數(shù)據(jù)信息庫中記錄的所有C接口函數(shù)的數(shù)據(jù)信息；

所述測試系統(tǒng)根據(jù)所述執(zhí)行隊列中的各個C接口函數(shù)的函數(shù)名稱，確定出待測試的所有C接口函數(shù)，并循環(huán)執(zhí)行以下操作，直至所有C接口函數(shù)測試完畢為止：

從所述執(zhí)行隊列中獲取一個C接口函數(shù)作為當(dāng)前C接口函數(shù)；

從所述數(shù)據(jù)隊列中獲取所述當(dāng)前C接口函數(shù)的數(shù)據(jù)信息，從所述當(dāng)前C接口函數(shù)的數(shù)據(jù)信息中獲取所述當(dāng)前C接口函數(shù)的各個參數(shù)，并將獲得的各個參數(shù)提供給所述當(dāng)前C接口函數(shù)，獲取所述當(dāng)前C接口函數(shù)的返回值；

將所述返回值與所述當(dāng)前C接口函數(shù)的預(yù)期值進(jìn)行匹配，基于匹配結(jié)果確定所述當(dāng)前C接口函數(shù)是否測試通過；

確定所述當(dāng)前C接口函數(shù)測試完畢。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測試系統(tǒng)從所述執(zhí)行隊列中獲取一個C接口函數(shù)作為當(dāng)前C接口函數(shù)之后，從所述數(shù)據(jù)隊列中獲取所述當(dāng)前C接口函數(shù)的數(shù)據(jù)信息之前，進(jìn)一步包括：

測試系統(tǒng)判斷預(yù)先建立的注冊函數(shù)數(shù)據(jù)庫中是否存在所述當(dāng)前C接口函數(shù)的函數(shù)說明，并在確定所述注冊函數(shù)數(shù)據(jù)庫中存在所述當(dāng)前C接口函數(shù)的函數(shù)說明的情況下，認(rèn)定所述當(dāng)前C接口函數(shù)已注冊。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測試系統(tǒng)將獲得的各個參數(shù)提供給所述當(dāng)前C接口函數(shù)，包括：

測試系統(tǒng)分別為獲得的各個參數(shù)分配存儲空間；

測試系統(tǒng)將各個參數(shù)存儲至各自對應(yīng)的存儲空間中，并將存儲在各自對應(yīng)的存儲空間中的各個參數(shù)提供給所述當(dāng)前C接口函數(shù)。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，測試系統(tǒng)分別為獲得的各個參數(shù)分配存儲空間，包括：

測試系統(tǒng)獲取各個參數(shù)的參數(shù)類型，其中，各個參數(shù)的參數(shù)類型是按照預(yù)先配置的參數(shù)類型定義規(guī)則定義的；

測試系統(tǒng)按照與參數(shù)類型相關(guān)聯(lián)的存儲空間分配方式，分別為各個參數(shù)分配相應(yīng)的存儲空間。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，測試系統(tǒng)按照與參數(shù)類型相關(guān)聯(lián)的存儲空間分配方式，分別為各個參數(shù)分配相應(yīng)的存儲空間，包括：

測試系統(tǒng)針對各個參數(shù)，若所述參數(shù)的參數(shù)類型為輸入類型、引用類型和全局類型中的任意一種，則基于預(yù)先建立的參數(shù)類型與存儲空間大小之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系，確定所述參數(shù)的存儲空間大小，并按照確定出的存儲空間大小，為所述參數(shù)分配存儲空間；若所述參數(shù)的參數(shù)類型為輸出類型，則獲取所述當(dāng)前C接口函數(shù)的輸出空間預(yù)測值，并按照獲得的所述輸出空間預(yù)測值，為所述參數(shù)分配存儲空間。

6.如權(quán)利要求3-5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，還包括：測試系統(tǒng)若確定滿足預(yù)設(shè)的空間釋放條件，則釋放為各個參數(shù)分配的存儲空間。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測試系統(tǒng)將獲得的各個參數(shù)提供給所述當(dāng)前C接口函數(shù)，包括：

測試系統(tǒng)從預(yù)先加載的包含所有C接口函數(shù)的函數(shù)入口地址的動態(tài)數(shù)據(jù)庫中，獲取所述當(dāng)前C接口函數(shù)的函數(shù)入口地址，并基于獲得的所述當(dāng)前C接口函數(shù)的函數(shù)入口地址，將各個參數(shù)提供給所述當(dāng)前C接口函數(shù)。

8.如權(quán)利要求1-5或7任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括：

測試系統(tǒng)確定所有C接口函數(shù)的測試完畢的情況下，統(tǒng)計測試通過的C接口函數(shù)的數(shù)目和函數(shù)名稱，以及測試不通過的C接口函數(shù)的數(shù)目和函數(shù)名稱，并基于測試通過的C接口函數(shù)的數(shù)目和函數(shù)名稱以及測試不通過的C接口函數(shù)的數(shù)目和函數(shù)名稱，生成測試結(jié)果文件。