[發(fā)明專利]一種離子注入法制作N型PERT雙面太陽電池的制備工藝在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710351678.8 | 申請日: | 2017-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN107425086A | 公開(公告)日: | 2017-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許新湖;梁興芳;盧發(fā)樹;柯雨馨 | 申請(專利權(quán))人: | 陽光中科(福建)能源股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/068 | 分類號: | H01L31/068;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京科億知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 362000 福建*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 離子 注入 法制 pert 雙面 太陽電池 制備 工藝 | ||
1.一種離子注入法制作N型PERT雙面太陽電池的制備工藝,其特征在于:所述工藝流程包括如下步驟:
硅片雙面制絨;
對制絨后的硅片正面離子注入硼形成P+N結(jié),背面離子注入磷形成N+N高低結(jié);
硅片雙面共同激活回火并同時(shí)生成SiO2鈍化膜;
在生成SiO2鈍化膜后的硅片雙面用PECVD法生長SiNx減反膜;
在生長SiNx減反膜后的硅片雙面印刷Ag;
對雙面印刷Ag后的硅片進(jìn)行共燒結(jié)處理;
對共燒結(jié)處理后的硅片進(jìn)行電性測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種離子注入法制作N型PERT雙面太陽電池的制備工藝,其特征在于:所述硅片正面離子注入硼形成P+N結(jié),背面離子注入磷形成N+N結(jié)中P+和N+層的方阻都為80Ω/sq,方阻均勻。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種離子注入法制作N型PERT雙面太陽電池的制備工藝,其特征在于:所述生成SiO2鈍化膜的共同回火溫度1000℃~1050℃,時(shí)間持續(xù)半小時(shí),在回火工藝快結(jié)束時(shí)的15分鐘通純氧80ml/min,生成相當(dāng)用干氧法成長的SiO2鈍化膜,SiO2鈍化膜厚度為15nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種離子注入法制作N型PERT雙面太陽電池的制備工藝,其特征在于:所述用PECVD法生長SiNx減反膜的厚度為70nm,SiO2鈍化膜與SiNx減反膜形成SiO2/SiNX的雙層鈍化減反膜。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





