[發明專利]一種用于兩相流分層界面形態測量的平行線陣列傳感系統在審
| 申請號： | 201710350929.0 | 申請日： | 2017-05-17 |
| 公開（公告）號： | CN107271333A | 公開（公告）日： | 2017-10-20 |
| 發明（設計）人： | 翟路生;鄢聰;張宏鑫;金寧德 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01N13/00 | 分類號： | G01N13/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所12201 | 代理人： | 程毓英 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 兩相 分層 界面 形態 測量 平行線 陣列 傳感 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于兩相流分層界面形態測量的平行線陣列傳感系統，用于測量具有電導率差異的兩相流的分層界面形態.包括水平測量管道、固定件和平行線陣列傳感器，其特征在于，固定件與水平測量管道固定連接，平行線陣列傳感器包括兩組平行線電極，一組分布在上游的同一個管道橫截面上，均作為激勵電極，另一組分布在下游的同一個管道橫截面上，均作為接收電極，位置相對的激勵電極和接收電極構成一對線電極，各個電極固定在固定件上并穿過水平測量管道。
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