[發明專利]可調節測試支架及測量系統

在審

• 申請號: 201710349802.7
• 申請日: 2017-05-17
• 公開（公告）號: CN106996746A
• 公開（公告）日: 2017-08-01
• 發明（設計）人: 徐湘濤;黃秋香;高涌濤;周禹熹;李云
• 申請（專利權）人: 成都理工大學
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371
• 代理人: 魏彥

技術領域

本發明涉及支架技術領域，具體而言，涉及一種可調節測試支架及測量系統。

背景技術

目前，在對待測物體進行位移測試時，需要將測試裝置安裝在測試支架進行測量。然而測試的空間環境多變，而現有的測試支架調節不便，不能適應多變的測試環境，此外結構的穩定性差，不能確保測量過程中的可靠性。

發明內容

為了克服現有技術中的上述不足，本發明的目的在于提供一種可調節測試支架及測量系統，能夠進行高度和寬度的調節，以適應多變的測試環境，并能夠達到很好的穩定性。

為了實現上述目的，本發明較佳實施例提供的技術方案如下：

本發明較佳實施例提供一種可調節測試支架，所述可調節測試支架包括：

相對設置的用于進行高度調節的兩個高度調節桿；

分別與所述兩個高度調節桿的底部可拆卸連接的用于進行水平寬度調節的第一水平調節桿，所述第一水平調節桿與所述兩個高度調節桿的底部的連接位置處分別設置有用于進行支架調平的調平裝置；

分別與所述兩個高度調節桿的頂部可拆卸連接的用于進行水平寬度調節的第二水平調節桿，所述第二水平調節桿上設置有用于連接測試裝置的測試連接桿，所述測試連接桿可在所述第二水平調節桿的延伸方向以及與所述第二水平調節桿的延伸方向相垂直的方向上滑動。

在本發明較佳實施例中，所述可調節測試支架還包括第一連接件，所述第一連接件包括用于套設所述第一水平調節桿的第一通孔、用于套設所述高度調節桿的第二通孔以及用于套設所述調平裝置的第三通孔。

其中，所述第一水平調節桿的延伸方向、所述高度調節桿的延伸方向以及所述調平裝置的延伸方向相互垂直。

在本發明較佳實施例中，所述可調節測試支架還包括第二連接件，所述第二連接件包括用于套設所述第二水平調節桿的第四通孔以及用于套設所述高度調節桿的第五通孔。

其中，所述第二水平調節桿的延伸方向與高度調節桿的延伸方向相互垂直。

在本發明較佳實施例中，所述高度調節桿包括第一伸縮桿和第一刻度管，所述第一伸縮桿套設于所述第一刻度管。

在本發明較佳實施例中，所述第一水平調節桿包括第二伸縮桿和第二刻度管，所述第二伸縮桿套設于所述第二刻度管。

在本發明較佳實施例中，所述第二水平調節桿包括第三刻度管和兩個第三伸縮桿，所述第三刻度管位于兩個第三伸縮桿之間，所述兩個第三伸縮桿分別套設于所述第三刻度管的兩端。

在本發明較佳實施例中，所述調平裝置包括底桿以及與底桿兩端分別連接的用于支架調平的腳螺旋，所述底桿上設置有水平氣泡。

在本發明較佳實施例中，所述測試連接桿包括滑動伸縮桿、第四刻度管以及調平儀器盒子；

所述滑動伸縮桿套設于所述第二水平調節桿，所述第四刻度管與所述滑動伸縮桿連接，所述調平儀器盒子與所述第四刻度管連接；

所述調平儀器盒子上設置有水平氣泡，并包括有一用于連接至少一個用于測量待測物體的測試裝置的云臺。

在本發明較佳實施例中，所述測試裝置為激光位移測試裝置。

本發明較佳實施例還提供一種測量系統，所述測量系統包括測試裝置以及上述的可調節測試支架，所述測試裝置設置在所述可調節測試支架上用于對待測物體進行測量。

相對于現有技術而言，本發明具有以下有益效果：

本發明實施例提供的可調節測試支架及測量系統。所述可調節測試支架包括：相對設置的用于進行高度調節的兩個高度調節桿；分別與所述兩個高度調節桿的底部可拆卸連接的用于進行水平寬度調節的第一水平調節桿，所述第一水平調節桿與所述兩個高度調節桿的底部的連接位置處分別設置有用于進行支架調平的調平裝置；分別與所述兩個高度調節桿的頂部可拆卸連接的用于進行水平寬度調節的第二水平調節桿，所述第二水平調節桿上設置有用于連接測試裝置的測試連接桿，所述測試連接桿可在第二水平調節桿的延伸方向以及與第二水平調節桿的延伸方向相垂直的方向上滑動。基于上述設計，本發明提供的測試支架能夠進行高度和寬度的調節，以適應多變的測試環境，并能夠達到很好的穩定性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本發明的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。

圖1為本發明較佳實施例提供的可調節測試支架的一種結構示意圖；