[發(fā)明專利]具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710349203.5
• 申請日: 2017-05-17
• 公開（公告）號: CN108946065B
• 公開（公告）日: 2020-03-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蘇飛龍
• 申請（專利權(quán)）人: 友立新科技股份有限公司
• 主分類號: B65G47/14
• 分類號: B65G47/14
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 景懷宇

1.一種具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，用于裝設(shè)于元件外觀檢測機，所述元件外觀檢測機具有測試轉(zhuǎn)盤，所述具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置設(shè)于所述測試轉(zhuǎn)盤一側(cè)，所述具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置包括：

基座，其設(shè)有分料轉(zhuǎn)盤，所述基座具有第一側(cè)邊，所述第一側(cè)邊具有導(dǎo)料缺口，以使所述分料轉(zhuǎn)盤局部重疊于所述測試轉(zhuǎn)盤上；

蓋板，樞接于所述基座，用以蓋合于所述分料轉(zhuǎn)盤上，所述蓋板具有內(nèi)表面，所述內(nèi)表面拆卸式結(jié)合有多個模組導(dǎo)條，所述模組導(dǎo)條包含導(dǎo)入導(dǎo)條及多個螺紋狀斷續(xù)排列的外圈導(dǎo)條；

真空導(dǎo)正裝置，設(shè)置于所述蓋板的內(nèi)表面，所述真空導(dǎo)正裝置包括導(dǎo)正件，所述導(dǎo)正件具有連通于真空裝置的真空凹槽與導(dǎo)正面，所述導(dǎo)正面位于所述真空凹槽一側(cè)；以及

靜電吸附裝置，固設(shè)于所述基座，所述靜電吸附裝置具有輔助待測元件排列導(dǎo)出的吸附條，其位于所述導(dǎo)料缺口的下方；

其中，當所述蓋板為蓋合狀態(tài)，所述吸附條對準于所述導(dǎo)正件，以使待測元件緊靠所述導(dǎo)正面并由所述分料轉(zhuǎn)盤逐一載入至所述測試轉(zhuǎn)盤。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述真空凹槽通過真空抽氣管連通于所述真空裝置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述真空凹槽通過氣孔與所述真空抽氣管連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述導(dǎo)正面為鏡面。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述吸附條位于所述分料轉(zhuǎn)盤與所述測試轉(zhuǎn)盤的重疊區(qū)域的下方且不超出所述導(dǎo)正件的導(dǎo)正面。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，還包括入料裝置，所述蓋板具有入料口，所述蓋板的外表面上結(jié)合有連通所述入料口的料斗，以供所述入料裝置入料待測元件至所述分料轉(zhuǎn)盤。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述的模組導(dǎo)條還包括多個回流導(dǎo)條，其位于所述的外圈導(dǎo)條的內(nèi)側(cè)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述蓋板還具有裝置孔，所述蓋板上還設(shè)置有入料偵測裝置與入料分散裝置，所述入料分散裝置具有吹散噴嘴對準于所述裝置孔中。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述蓋板還設(shè)置有第一元件排列不良剔除裝置；所述基座設(shè)置有第二元件排列不良剔除裝置，其鄰近于所述導(dǎo)料缺口。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有真空導(dǎo)正的元件入料排列供給裝置，其特征在于，所述分料轉(zhuǎn)盤為導(dǎo)電薄膜，所述測試轉(zhuǎn)盤為玻璃片。