[發明專利]一種量子LoG邊緣檢測方法在審
| 申請號： | 201710347909.8 | 申請日： | 2017-05-17 |
| 公開（公告）號： | CN107169982A | 公開（公告）日： | 2017-09-15 |
| 發明（設計）人： | 袁素真;路永樂;毛雪峰;王艷;袁建國;劉開健;曹陽;王小發 | 申請（專利權）人： | 重慶郵電大學 |
| 主分類號： | G06T7/13 | 分類號： | G06T7/13 |
| 代理公司： | 北京同恒源知識產權代理有限公司11275 | 代理人： | 廖曦 |
| 地址： | 400065 *** | 國省代碼： | 重慶;85 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 量子 log 邊緣 檢測 方法 | ||
1.一種量子LoG邊緣檢測方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
S1：選擇有利于實現并行處理的NEQR(A Novel Enhanced Quantum Representation)量子圖像表示模型；
S2：對高斯拉普拉斯(Laplacian ofthe Gaussian,LoG)算子離散化，獲得具有去噪功能的濾波掩膜；
S3：通過量子移位操作獲得圖像的鄰域信息；
S4：根據一位量子全加器設計量子圖像加法器；
S5：利用量子圖像加法器及所獲得的鄰域信息實現圖像的濾波，從而獲得邊緣信息。
2.根據權利要求1所述的一種量子LoG邊緣檢測方法，其特征在于：所述量子移位操作為：對圖像量子態中表示位置的量子比特進行酉變換，從而移動圖像中像素的位置；所述鄰域信息為：圖像每一個像素在相同位置處的鄰域存儲到一個圖像中的信息。
3.根據權利要求1或2所述的一種量子LoG邊緣檢測方法，其特征在于：所述領域信息獲得步驟為：
S301：制備h個相同的圖像量子態|IYX>，其中c歸為歸一化常數，使掩膜中所有元素的和為0，x、y為圖像的水平和垂直坐標，σ為標準偏差；
S302：對h個圖像量子態分別施以不同的移位操作，得到一系列新的存儲了原圖像及其鄰域信息的圖像量子態。
4.根據權利要求1所述的一種量子LoG邊緣檢測方法，其特征在于：所述S5具體為：利用量子圖像加法器實現兩幅量子圖像的相加；乘法運算用加法運算代替實現像素與濾波掩膜系數的相乘運算。
5.根據權利要求1或4所述的一種量子LoG邊緣檢測方法，其特征在于：所述量子圖像加法器將相加后的圖像信息通過酉變換從量子疊加態中提取出來。
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