[發明專利]一種半導體制冷晶粒自動分選機

在審

• 申請號: 201710347271.8
• 申請日: 2017-05-17
• 公開（公告）號: CN107030026A
• 公開（公告）日: 2017-08-11
• 發明（設計）人: 陳天順;周創舉;盧崢業
• 申請（專利權）人: 鵬南科技（廈門）有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/02
• 代理公司: 杭州知瑞知識產權代理有限公司33271
• 代理人: 巫麗青

1.一種半導體致冷片晶粒自動分選機，其特征在于，包括：

機架；

設置在機架上的晶粒運送裝置，所述晶粒運送裝置上設有產品監測裝置，用于監測待分選晶粒是否到達指定位置；

設置在晶粒運送裝置的上方和兩側的晶粒檢測裝置，所述晶粒檢測裝置包括分別用于識別晶粒上面、前側面和后側面的攝像頭；

與所述晶粒檢測裝置相連接的圖像處理單元，所述圖像處理單元接收到所述產品監測裝置發出的控制信號后，控制上述的攝像頭依次拍攝照片，所述攝像頭將拍攝的圖像信息返回至所述圖像處理單元，所述圖像處理單元對照被比對象對圖像信息依次進行判斷，確定圖像信息中的產品是否為良品，并根據判斷結果決定是否輸出晶粒取出信號；

與所述圖像處理單元相連接的控制電路，與所述控制電路相連接的晶粒取出裝置，所述控制電路接收所述晶粒取出信號并控制所述晶粒取出裝置進行晶粒取出操作。

2.如權利要求1所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，還包括與晶粒運送裝置相銜接的晶粒輸入裝置，所述晶粒輸入裝置包括晶粒振動裝置和晶粒拾入裝置，所述晶粒拾入裝置與所述控制電路相連接，所述晶粒振動裝置包括依次連接的曲線振動盤和直線振動盤，在曲線振動盤中剔除尺寸偏差大和形狀不規則的晶粒，剩余待分選的晶粒在直線振動盤逐顆排列后，由所述控制電路控制所述晶粒拾入裝置將晶粒拾入所述晶粒運送裝置。

3.如權利要求1所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，所述晶粒運送裝置包括設在機架上的運送軌道、在運送軌道上移動的活動治具、固定在運送軌道兩端并驅動活動治具沿著運送軌道循環移動的多個氣缸，所述活動治具上表面承載晶粒。

4.如權利要求3所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，所述運送軌道至少包括兩條平行的條形槽。

5.如權利要求3所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，所述晶粒取出裝置包括固定于晶粒運送裝置一側與晶粒檢測裝置相銜接并與高壓氣源和控制電路相連接的氣缸，還包括設置在運送軌道上并且與所述氣缸相連接的氣動吸盤。

6.如權利要求2所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，所述晶粒拾入裝置包括固定于晶粒輸入裝置一側并與高壓氣源和控制電路相連接的氣缸，還包括與所述氣缸相連接的氣動吸盤。

7.如權利要求1~6任一項中所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，還包括設置在機架上的運行監測裝置，所述運行監測裝置與所述控制電路相連接，所述運行監測裝置分別監測晶粒運送裝置的氣缸、晶粒取出裝置和直線振動盤是否存在異常；所有氣缸均連接控制電路。

8.如權利要求1所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，所述攝像頭為CCD攝像頭，所述產品監測裝置和所述運行監測裝置均為光纖信號放大器。

9.如權利要求1所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，還包括與所述圖像處理單元相連接的顯示器，所述圖像處理單元中還包括一用于記錄判斷為良品或不良品數量的記錄部件。

10.如權利要求1所述的一種半導體制冷晶粒自動分選機，其特征在于，在所述晶粒取出裝置的氣動吸盤處設有收集良品容器。