[發明專利]一種帶有反并聯二極管的雙向TVS器件及其制備方法在審
| 申請號: | 201710346858.7 | 申請日: | 2017-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN108417613A | 公開(公告)日: | 2018-08-17 |
| 發明(設計)人: | 蔣騫苑;蘇海偉;趙德益;趙志方;張嘯;王允;馮星星 | 申請(專利權)人: | 上海長園維安微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/861;H01L21/329 |
| 代理公司: | 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙) 31298 | 代理人: | 韓國輝 |
| 地址: | 201202 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 襯底 反并聯二極管 襯底正面 制備 高頻數據 互連金屬 接口電路 器件結構 電容 超低的 漏電流 耗電 散熱 電路 金屬 響應 應用 | ||
1.一種帶有反并聯二極管的雙向TVS器件,其特征在于,包括一P型硅襯底,所述P型硅襯底正面均設有N型摻雜區域和P型摻雜區域,所述P型硅襯底正面的N型摻雜區域做金屬引出,所述P型硅襯底背面的N型摻雜區域和P型摻雜區域做互連金屬引出;所述P型硅襯底背面的N型摻雜區域和P型摻雜區域間距大于等于零。
2.根據權利要求1所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件,其特征在于,所述P型硅襯底背面的N型摻雜區域在內側,P型摻雜區域在外側。
3.根據權利要求1所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件,其特征在于,所述P型硅襯底背面的N型摻雜區域在外側,P型摻雜區域在內側。
4.根據權利要求1、2或3所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件,其特征在于,所述P型硅襯底背面的N型摻雜區域和P型摻雜區域局部開出接觸孔并做互連金屬引出。
5.根據權利要求1、2或3所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件,其特征在于,所述P型硅襯底背面的N型摻雜區域和P型摻雜區域全部打開并做互連金屬引出。
6.權利要求1-5任意一項所述帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟(1):在P型硅襯底晶圓片正面和背面同時生長氧化層;
步驟(2):在晶圓片正面和背面氧化層上開出N型摻雜區域窗口;
步驟(3):去除晶圓片正面和背面N型摻雜區域窗口內的氧化層;
步驟(4):用擴散摻雜的方式進行雙面N型元素摻雜;
步驟(5):在晶圓片正面和背面氧化層上開出P型摻雜區域窗口;
步驟(6):去除正面和背面P型摻雜區域窗口內的氧化層;
步驟(7):用擴散摻雜的方式進行雙面P型元素摻雜;
步驟(8):高溫推阱;
步驟(9):在晶圓片正面N型摻雜區域開接觸孔窗口,在晶圓片背面N型摻雜區域和P型摻雜區域開接觸孔窗口;
步驟(10):去除正面和背面接觸孔區域窗口的氧化層;
步驟(11):正面和背面的接觸孔區域做金屬布線引出。
7.根據權利要求6所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(1)中,P型襯底電阻率為0.01~0.05Ω·CM,生長的氧化層厚度范圍是0.6~1.5μm。
8.根據權利要求6所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(2)、(5)中用光刻膠掩膜開出摻雜區域窗口。
9.根據權利要求6所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(3)、(6)中用濕法刻蝕的方法將正面和背面摻雜區域窗口內的氧化層去除。
10.根據權利要求8所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(4)、(7)中,先去除光刻膠,然后再進行雙面元素擴散摻雜。
11.根據權利要求10所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(4)中進行磷擴散摻雜,采用POCl3工藝,溫度范圍為950~1050℃。
12.根據權利要求10所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(7)中進行硼擴散摻雜,溫度范圍為850~1050℃。
13.根據權利要求6所述的帶有反并聯二極管的雙向TVS器件的制造方法,其特征在于:步驟(8)中推阱的工藝條件為:溫度范圍1200~1300℃,推阱時間8~10小時,結深范圍16~24μm。
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