[發明專利]測量治具及其測量方法

在審

• 申請號: 201710346319.3
• 申請日: 2017-05-17
• 公開（公告）號: CN107121051A
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 楊生
• 申請（專利權）人: 深圳市長盈精密技術股份有限公司
• 主分類號: G01B5/18
• 分類號: G01B5/18
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙)44316
• 代理人: 趙勍毅

1.一種測量治具，其特征在于，包括基座、分別夾持于所述基座兩端的高度尺與支柱，所述支柱包括安裝固定于機臺上的安裝固定部，所述高度尺包括數字顯示部及位于所述數字顯示部下方的探針，對工件進行測量時，先將所述探針移動至基準面并歸零所述高度尺，抬高并移動所述高度尺至所述探針接觸待測面，獲得測量數據。

2.如權利要求1所述的測量治具，其特征在于，所述基座包括主體部、位于所述主體部兩端的第一端部與第二端部，所述高度尺與所述支柱分別夾持于所述第一端部與第二端部。

3.如權利要求2所述的測量治具，其特征在于，所述第一端部在垂直方向上開設有貫通的第一槽道、所述第一槽道中部位置上開設有用于夾持所述高度尺的第一夾孔。

4.如權利要求3所述的測量治具，其特征在于，所述第一槽道貫穿所述第一端部的外緣并將所述第一端部分割成兩個第一夾片，所述第一夾孔位于所述兩個第一夾片之間。

5.如權利要求4所述的測量治具，其特征在于，所述第一螺孔上螺接有第一螺栓，所述第一端部位于第一螺孔位置處的寬度小于所述主體部的寬度。

6.如權利要求5所述的測量治具，其特征在于，所述高度尺的探針包括連接所述數字顯示部的裝夾部及位于所述裝夾部下端的探針端部，所述裝夾部夾持于所述第一夾孔內，并通過所述第一螺栓擰緊兩個第一夾片以夾緊所述裝夾部。

7.如權利要求2所述的測量治具，其特征在于，所述第二端部在垂直方向上開設有貫通的第二槽道、所述第二槽道中部位置上開設有夾持所述支柱的第二夾孔。

8.如權利要求7所述的測量治具，其特征在于，所述第二槽道貫穿所述第二端部的外緣并將所述第二端部分割成兩個第二夾片，所述第二夾孔位于所述兩個第二夾片之間。

9.如權利要求8所述的測量治具，其特征在于，所述第二夾片位于所述第二夾孔外端設有第二螺孔，所述第二螺孔上螺接有第二螺栓，所述第二端部位于第二螺孔位置處的寬度小于所述主體部的寬度，所述支柱還包括位于所述安裝固定部下方并夾持于所述第二夾孔內的夾持部。

10.一種測量方法，其特征在于，使用如權利要求1-9任一項所述測量治具對工件進行測量，包括：

先將所述支柱的安裝固定部安裝夾持于機臺上；

調整所述探針的與待測面的位置；

將所述探針的探針端部移動至標準面，將所述高度尺歸零；

通過機臺抬高所述高度尺，并將所述高度尺的探針端部移動至接觸待測面，獲得高度尺的讀數作為測量數據。