[發明專利]磁環的來料檢驗方法

在審

• 申請號: 201710345677.2
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN107270962A
• 公開（公告）日: 2017-10-20
• 發明（設計）人: 何保明
• 申請（專利權）人: 浦北縣富通電子科技有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 北京同輝知識產權代理事務所(普通合伙)11357
• 代理人: 魏忠暉

技術領域

本發明涉及日用電器領域，具體涉及一種磁環的來料檢驗方法。

背景技術

IQC即來料品質檢驗，指對采購進來的原材料、部件或產品做品質確認和查核，即在供應商送原材料或部件時通過抽樣的方式對產品進行檢驗，并最后做出判斷該批產品是接收還是退換。

IQC是企業產品在生產前的第一個控制品質的關卡，如把不合格品放到制程中，則會導致制程或最終產品的不合格，造成巨大的損失。IQC不僅影響到公司最終產品的品質，還影響到各種直接或間接成本。

在制造業中，對產品品質有直接影響的通常為設計、來料、制程、儲運四大主項，一般來說設計占25％，來料占50％，制程占20％，儲運1％到5％。綜上所述，來料檢驗對公司產品質量占壓倒性的地位，所以要把來料品質控制升到一個戰略性地位來對待。

現有技術中，對于磁環的來料檢驗方法尚未見報道。

發明內容

本發明的目的是克服上述現有技術的不足之處，提供一種磁環的來料檢驗方法，以提高供貨質量。

為達到上述目的，本發明采用如下技術方案：一種磁環的來料檢驗方法，包括以下步驟：步驟1：目測：磁環有無變形、破裂、結晶體等；步驟2：尺寸：根據規格要求，用卡尺測量出磁環的內徑、外徑和高，并記錄下來；步驟3：參數穩定性：首先在抽選的磁環繞上相同匝數的銅芯線，再記取每個磁環常溫下的參數值并在磁環上貼上標識，把磁環都放入烘箱內，并將磁環上的銅芯線伸出烘箱外，最后用萬用表測量每個磁環在溫度變化5-10℃下參數值；步驟4：另外抽選部分磁環，置入烘箱中，加溫到100℃恒定4小時，恢復至常溫后用磁性分選儀測量其參數值；步驟5：將抽檢情況記錄在來料檢驗報告表上，并判定允收或退貨。

進一步地，退貨依據：變形、高度偏高、破損、有結晶體。

更進一步地，判定為退貨時，需將磁環進行全檢，挑出良品，將壞品退貨。

進一步地，磁環參數額定值為≤0。

本發明的有益效果：本發明特地制定磁環的來料檢驗方法，利用烘箱升溫來測量抽選的磁環以觀察其參數穩定性，進一步地加強品質監督，提高供貨質量，促使生產效率提高。

本發明的其它優點、目標和特征將部分通過下面的說明體現，部分還將通過對本發明的研究和實踐而為本領域的技術人員所理解。

具體實施方式

結合下列實施例對本發明做進一步的詳細說明，以令本領域技術人員參照說明書文字能夠據以實施。

本發明磁環的來料檢驗方法，包括以下步驟：

步驟1：目測：磁環有無變形、破裂、結晶體等。

步驟2：尺寸：根據規格要求，用卡尺測量出磁環的內徑、外徑和高，并記錄下來。

步驟3：參數穩定性：首先在抽選的磁環繞上相同匝數的銅芯線，再記取每個磁環常溫下的參數值并在磁環上貼上標識，把磁環都放入烘箱內，并將磁環上的銅芯線伸出烘箱外，最后用萬用表測量每個磁環在溫度變化5-10℃下參數值，磁環參數額定值為≤0。

步驟4：另外抽選部分磁環，置入烘箱中，加溫到100℃恒定4小時，恢復至常溫后用磁性分選儀測量其參數值。

步驟5：將抽檢情況記錄在來料檢驗報告表上，并判定允收或退貨。符合規格要求的，允收；有下列情形的退貨：變形、高度偏高、破損、有結晶體。

判定為退貨時，需將磁環進行全檢，挑出良品，將壞品退貨。

以下為磁環的規格要求：

盡管本發明的實施方案已公開如上，但其并不僅僅限于說明書和實施方式中所列運用，它完全可以被適用于各種適合本發明的領域，對于熟悉本領域的人員而言，可容易地實現另外的修改，因此在不背離權利要求及等同范圍所限定的一般概念下，本發明并不限于特定的細節和這里示出與描述的實施例。