[發(fā)明專利]液晶調制光學相控陣列式光譜儀、探測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710343654.8
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN107084792A
• 公開（公告）日: 2017-08-22
• 發(fā)明（設計）人: 張冰;韓順利;孟鑫;劉磊;侯喜報
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司37221
• 代理人: 張勇

1.一種液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：包括分光系統(tǒng)、光探測器和數據處理系統(tǒng)，所述分光系統(tǒng)具有液晶調制光學相控陣列單元，用于將待測點發(fā)出的光束按不同波長成分分解；光探測器，探測被分解的光束，將光信號轉化為電信號；數據處理系統(tǒng)與所述光探測器相連，用于得到待測點的光譜曲線。

2.根據權利要求1所述的液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：所述分光系統(tǒng)包括沿光路方向依次設置的前置光學系統(tǒng)、入射狹縫、準直物鏡、液晶調制光學相控陣列單元、聚光物鏡、出射狹縫和中繼鏡。

3.根據權利要求2所述的液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：所述液晶調制光學相控陣列單元由液晶調制器件和控制電路組成，通過控制電路改變液晶調制器件中液晶單元的偏轉方向，從而改變出射不同波長光束的出射角，使不同波長的出射光束依次匯聚于出射狹縫。

4.根據權利要求2所述的液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：所述入射狹縫位于所述準直物鏡的前焦面位置，出射狹縫位于所述聚光物鏡的后焦面位置；所述出射狹縫和光探測器的靶面關于中繼鏡成物像對應關系。

5.根據權利要求1所述的液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：所述準直物鏡采用折射型鏡頭或反射型鏡頭。

6.根據權利要求1所述的液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：所述前置光學系統(tǒng)采用光纖或聚光物鏡。

7.根據權利要求1所述的液晶調制光學相控陣列式光譜儀，其特征在于：所述光探測器采用點探測器。

8.一種液晶調制光學相控陣列式光譜儀的光譜探測方法，其特征在于：采用液晶調制光學相控陣列對待測點發(fā)出的光束按不同波長成分進行分光，并實時調節(jié)不同波長光束的出射角，使不同波長的出射光束會聚于一點，探測該點的光信號，得到待測點的光譜曲線。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于：對所述待測點發(fā)出的光束依次進行空間濾波、準直，生成平行光。

10.根據權利要求8所述的方法，其特征在于：對所述會聚于一點的出射光束進行中繼傳輸，用于遠距離探測。