[發明專利]一種聚合物薄膜高精度定厚儀

在審

• 申請號: 201710342117.1
• 申請日: 2017-05-16
• 公開（公告）號: CN106969699A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發明（設計）人: 何麗娟;趙磊;陳春天;牛會琴;李大偉;苑振華;楊雄
• 申請（專利權）人: 哈爾濱理工大學
• 主分類號: G01B7/06
• 分類號: G01B7/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種聚合物薄膜高精度定厚儀，包括底座、支撐桿、螺旋驅動裝置、傳送裝置、螺旋套、下降桿、涂膜測厚儀、兩個玻璃壓片器和數據采集與控制裝置，其特征是，所述傳送裝置包括聯軸器、齒輪A和齒輪B，所述螺旋驅動裝置包括電機和控制器，底座位于最底端，支撐桿豎直垂直放置，下面固定連接底座，上面連接螺旋驅動裝置的電機，電機另一端連接傳送裝置的聯軸器，螺旋驅動裝置的控制器連接數據采集與控制裝置，傳送裝置的聯軸器連接齒輪A，齒輪A與齒輪B相互嚙合，齒輪B連接螺旋套，整個傳送裝置的連接方式為正齒平行安裝，螺旋套連接下降桿，涂膜測厚儀集成于下降桿上，涂膜測厚儀的輸出線連接數據采集與控制裝置，兩個玻璃壓片器，上玻璃壓片器嵌套連接下降桿，下玻璃壓片器嵌套連接底座，所要測量定厚的聚合物薄膜材料傾倒于兩個玻璃壓片器之間。

2.根據權利要求1所述的一種聚合物薄膜高精度定厚儀，其特征是，所述螺旋驅動裝置，電機用于維持齒輪A和齒輪B的轉動，控制器連接數據采集與控制裝置，用于控制與記錄螺旋套轉過的角度與下降桿下降的高度。

3.根據權利要求1所述的一種聚合物薄膜高精度定厚儀，其特征是，所述下降桿為不規則凹型結構，與上玻璃壓片器嵌套連接，螺旋套每轉7.2度，下降桿下降高度為10μm。

4.根據權利要求1所述的一種聚合物薄膜高精度定厚儀，其特征是，所述涂膜測厚儀包括表盤、探頭和輸出線，探頭具有磁性，表盤與探頭集成于下降桿上，探頭底端與下降桿底端平齊，輸出線連接數據采集與控制裝置，用于數據控制與傳輸。

5.根據權利要求1所述的一種聚合物薄膜高精度定厚儀，其特征是，所述兩個玻璃壓片器為不規則凹形結構，厚度小于5mm，下玻璃壓片器上表面的長度與寬度均比上玻璃壓片器下表面的大。

6.根據權利要求1所述的一種聚合物薄膜高精度定厚儀，其特征是，所述底座材質為鋼，具有磁性，設有圓孔，底座通過圓孔與支撐桿固定連接。