[發明專利]一種ICP?MS信號處理方法

在審

• 申請號: 201710339167.4
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN107315046A
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發明（設計）人: 馬慶偉;薛恒鋼
• 申請（專利權）人: 北京毅新博創生物科技有限公司
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及元素分析領域，特別涉及數據連續處理的ICP-MS的數據后處理方法。

背景技術

電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)結合了電感耦合等離子體的高溫電離特性與四級桿質譜儀的靈敏快速掃描的優點，是目前痕量與超痕量成分多元素快速分析的最有效和同位素豐富度測量最靈敏、準確的方法。該技術與其他痕量分析技術相比的優越性在于:(1)在大氣壓下進樣，便于與其它進樣技術聯用；(2)圖譜簡單，檢出限低，分析速度快，動態范圍寬；(3)可進行同位素分析，單元素和多元素分析，以及有機物中金屬元素的形態分析；(4)離子初始能量低，可使用簡單的質量分析器(如四極桿和時間飛行質譜計)；(5)ICP離子源產生的超高溫度，理論上能使所有的金屬元素和一些非金屬元素電離。

近10年來，由于大規模集成電路和計算機技術的高速發展，也促進了ICP-MS 的進步。特別是ICP源、接口、離子鏡系統、真空系統和儀器控制系統等技術的發展，使ICP-MS逐漸趨于完善和成熟。到90年代中期所生產的儀器，體積變小，穩定性提高，自動化程度高，操作較為簡單。使儀器的背景計數降低一個數量級，分析精密度提高一倍，大多數元素的檢出限接近或低于1pg/ml。

21世紀推出的儀器，其分析功能和性能指標又有較大幅度的提高。ICP-MS 的進樣系統在不斷地發展和改進，近年來出現了如激光燒蝕、電熱蒸發、液相色譜、高效液相色譜、氣相色譜、流動注射等不同類型的進樣裝置。這些不同的進樣系統對提高測量速度，降低檢測限，消除基體干擾都起到了很好的作用，使得 ICP-MS在國內外的應用己涉及所有的科學領域。

ICP-MS有很強的能力來分析大量測定痕量元素的樣品，典型的分析時間為每個樣品小于5分鐘，在某些分析情況下只需2分鐘。ICP-AES的分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型，每個樣品所需的時間為2或6分鐘，全譜直讀型較快，一般為2分鐘測定一個樣品。GFAAS的分析速度為每個樣品中每個元素需3-4分鐘，晚上可以自動工作，這樣保證對樣品的分析能力。

ICP-MS的溶液的檢出限大部份為ppt級(實際的檢出限受基體干擾等因素影響)，石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級，ICP-AES大部份元素的檢出限為1-10ppb，一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級的檢出限。必須指出， ICP-MS的ppt級檢出限是針對溶液中溶解物質很少的單純溶液而言的，若涉及固體中濃度的檢出限，由于ICP-MS的耐鹽量較差，ICP-MS檢出限的優點會變差多達50倍，一些普通的輕元素(如S、Ca、Fe、K、Se)在ICP-MS中有嚴重的干擾，也將惡化其檢出限。