[發明專利]一種識別地層產狀的方法和地層參數的反演方法

有效

• 申請號: 201710337945.6
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN107218033B
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 劉耀偉;楊玉卿;于增輝;崔維平;柳杰;武磊
• 申請（專利權）人: 中國海洋石油集團有限公司;中海油田服務股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 李紅爽;李丹

1.一種識別地層產狀的方法，其特征在于，包括：

獲取電成像儀器每個極板上的合成測井曲線；

對每條合成測井曲線進行預分層，得到每條合成測井曲線的預分層界面位置；

依次選取包含預分層界面位置的深度段作為參考段，對其它極板上的合成測井曲線進行相關對比，得到各個合成測井曲線的有效層界面；所述依次選取包含預分層界面位置的深度段作為參考段，對其它的合成測井曲線進行相關對比，得到各個合成測井曲線的有效層界面的步驟，具體包括：對所述每個極板上的合成測井曲線執行如下步驟：選取每個極板上的所述合成測井曲線作為參考曲線，將其它極板上的所述合成測井曲線作為對比曲線；在參考曲線上，按照深度順序依次選取三個所述預分層界面的深度段數據作為參考段，第一個深度點與第三個深度點之間的深度差為本次對比窗長；在各對比曲線上，使用相關對比法在預設的探索長度內依次計算出最大相關系數時的對比段中點深度；計算滿足最大相關系數大于預設的相關系數閾值的對比曲線條數，檢測所述對比曲線條數是否大于或等于預設的對比曲線條數閾值，如果大于或等于預設的對比曲線條數閾值，將參考曲線中的所述預分層界面作為有效層界面，將所述獲得最大相關系數時的對比段中點深度，作為與參考曲線中目標層界面相同層的層界面深度；對參考曲線上的所有預分層界面進行相關對比，得到該極板上的合成測井曲線的所有有效層界面；

對所有極板上的合成測井曲線的有效層界面按深度進行排序，獲得地層界面并計算地層產狀信息。

2.根據權利要求1所述的識別地層產狀的方法，其特征在于，所述獲取電成像儀器每塊極板上的合成測井曲線，具體包括：

對所述每個極板內若干個紐扣電極的測井曲線進行深度對齊；

對所述每個極板內每個采樣點上若干個鈕扣電極的測井數據求取平均值，將所述平均值作為所述采樣點的測量值，從而得到所述每個極板上的合成測井曲線。

3.根據權利要求1所述的識別地層產狀的方法，其特征在于，所述獲取電成像儀器每塊極板上的合成測井曲線之前，所述方法還包括：

對所述每個極板內每個采樣點上所有鈕扣電極的測井數據進行升序或降序排序，按照預設的第一剔除比例值剔除較大測井數據，以及第二剔除比例值剔除較小測井數據。

4.根據權利要求1所述的識別地層產狀的方法，其特征在于，所述對每條合成測井曲線進行預分層，得到每條合成測井曲線的預分層界面位置的步驟，具體包括：

對每條所述合成測井曲線進行平滑濾波處理；

獲取每條所述合成測井曲線對應的活度曲線和對比度曲線；

求取每條活度曲線的極大值點，并當極大值點在預設的窗長閾值范圍內與其余采樣點的對比度值大于預設的對比度閾值時，將所述極大值點的深度作為所述合成測井曲線的預分層界面位置。

5.根據權利要求1所述的識別地層產狀的方法，其特征在于，所述在各對比曲線上，使用相關對比法在預設的探索長度內依次計算出最大相關系數時的對比段中點深度的步驟，具體包括：

在各對比曲線上，在預設的探索長度范圍內依次選取與本次對比窗長長度相等的對比段，計算各對比段與參考段的合成測井曲線的相關系數，記錄每次探索長度范圍內的最大相關系數和獲得最大相關系數時的對比段中點深度。

6.根據權利要求1所述的識別地層產狀的方法，其特征在于：所述方法還包括：

當相鄰兩個所述有效層界面的深度差小于預設的深度閾值時，或者當所述相鄰兩個所述有效層界面存在交叉時，在所述獲得的地層界面中，去除所述相鄰兩個有效層界面中相關系數小的有效層界面。