[發明專利]一種基于響應混疊性度量的測試激勵與測點的協同優化方法有效
| 申請號： | 201710335811.0 | 申請日： | 2017-05-12 |
| 公開（公告）號： | CN107133476B | 公開（公告）日： | 2019-12-10 |
| 發明（設計）人： | 俞洋;姜月明;王鶴潼;李志盛 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 23109 哈爾濱市松花江專利商標事務所 | 代理人： | 楊立超 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 響應 混疊性 度量 測試 激勵 協同 優化 方法 | ||
1.一種基于響應混疊性度量的測試激勵與測點的協同優化方法，其特征在于：所述基于響應混疊性度量的測試激勵與測點的協同優化方法包括以下步驟：
步驟一：在全頻帶范圍獲取電路N個測點M次正常工作的特征信息以及M次由故障元件H引起的故障狀態下的特征信息，即得到M個正常樣本和M個故障樣本；
步驟二：根據特征信息得到在全頻帶下M個正常樣本和M個故障樣本對應的正態分布曲線，正常樣本的正態分布曲線的均值μ2和標準差σ2，故障樣本的正態分布曲線的均值μ1和標準差σ1；
步驟三：采用混疊性度量函數計算全頻帶的正常樣本與故障樣本之間的響應混疊性；
具體過程為：
步驟三一：判斷正常樣本和故障樣本的正態分布曲線的位置，求取正常狀態的正態分布曲線與故障狀態的正態分布曲線交點的橫坐標值，即比較μ2和μ1的大小，當μ1>μ2時，將交點的橫坐標記為x1，當μ1<μ2時，將交點的橫坐標記為x0；
步驟三二：根據交點橫坐標的值，計算正常樣本的正態分布曲線和故障樣本正態分布曲線的重疊區面積S，面積S表示正常狀態和關鍵故障狀態之間的響應混疊性，公式如下：
步驟三三：計算待測電路N個測點在全頻帶下的響應混疊性度量函數D(N，f)，計算公式為：
D(N，f)＝min(S)；
步驟四：根據步驟三計算得到的響應混疊性，選擇使響應混疊性度量函數達到最小值的測試激勵和測點。
2.根據權利要求1所述的一種基于響應混疊性度量的測試激勵與測點的協同優化方法，其特征在于：所述步驟一中特征信息為每個測點的電壓值。
3.根據權利要求2所述的一種基于響應混疊性度量的測試激勵與測點的協同優化方法，其特征在于：所述步驟二中：根據特征信息得到在全頻帶下M個正常樣本和M個故障樣本對應的正態分布曲線，以及正態分布的均值和標準差的具體過程為：
根據M個正常樣本和M個故障樣本的電壓值，采用Matlab數學工具箱中的normfit函數，獲得M個正常樣本和M個故障樣本對應的正態分布曲線以及正態分布的均值和方差；得到的正態分布曲線橫坐標為樣本的電壓值，縱坐標為樣本電壓值的概率密度分布。
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