[發明專利]量子成像方法、量子成像系統

在審

• 申請號: 201710334268.2
• 申請日: 2017-05-12
• 公開（公告）號: CN106932897A
• 公開（公告）日: 2017-07-07
• 發明（設計）人: 張淵明
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G02B27/10
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112
• 代理人: 汪源,陳源

1.一種量子成像方法，其特征在于，包括：

產生兩束混沌激光；

將兩束所述混沌激光分為第一信號光和第二信號光，并將所述第一信號光照射物體；

將照射物體后的第一信號光與所述第二信號光進行關聯測量，得到關聯結果；

根據所述關聯結果，獲取物體的相位信息；

根據所述物體的相位信息，獲得所述物體的圖像。

2.根據權利要求1所述的量子成像方法，其特征在于，所述根據所述關聯結果，獲取物體的相位信息包括：

根據所述關聯結果，通過貝葉斯分析算法獲取物體的相位信息。

3.根據權利要求1所述的量子成像方法，其特征在于，所述根據所述物體的相位信息，獲得所述物體的圖像包括：

根據所述物體的相位信息，利用數字信號處理技術，獲得所述物體的圖像。

4.一種量子成像系統，其特征在于，包括：

激光器，用于產生兩束混沌激光；

第一分光裝置，用于將所述兩束混沌激光分為第一信號光和第二信號光；

光學鏡，用于對所述第一信號光進行反射，以使所述第一信號光照射物體后射向第二分光裝置；用于對所述第二信號光進行反射，以使所述第二信號光射向所述第二分光裝置；

第二分光裝置，用于將所述第二信號光與照射物體后的所述第一信號光進行關聯測量，得到關聯結果；

第一檢測裝置，用于根據所述關聯結果，獲取所述物體的相位信息，并將所述物體的相位信息發送至數據處理裝置；

第二檢測裝置，用于獲取所述第二信號光的相位信息，并將所述第二信號光的相位信息發送至所述數據處理裝置；

數據處理裝置，用于根據所述物體的相位信息，獲得所述物體的圖像。

5.根據權利要求4所述的量子成像系統，其特征在于，所述光學鏡包括：第一光學鏡和第二光學鏡；

第一光學鏡，用于對所述第一信號光進行反射，以使所述第一信號光照射物體后射向第二分光裝置；

第二光學鏡，用于對所述第二信號光進行反射和透射，以使部分所述第二信號光射向所述第二分光裝置，另一部分所述第二信號光射向所述第二檢測裝置。

6.根據權利要求4或5所述的量子成像系統，其特征在于，所述第一檢測裝置具體用于根據所述關聯結果，利用貝葉斯分析算法，獲取所述物體的相位信息，并將所述物體的相位信息發送至所述數據處理裝置。

7.根據權利要求4或5所述的量子成像系統，其特征在于，所述數據處理裝置，具體用于根據所述物體的相位信息，利用數字信號處理技術，獲得所述物體的圖像。