[發明專利]一種具有高精度波形分析功能的數字示波器

有效

• 申請號: 201710333735.X
• 申請日: 2017-05-12
• 公開（公告）號: CN108872667B
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 蔣文裕;王悅;王鐵軍;其他發明人請求不公開姓名
• 申請（專利權）人: 北京普源精電科技有限公司
• 主分類號: G01R13/02
• 分類號: G01R13/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種具有高精度波形分析功能的數字示波器，包括采樣單元，存儲控制單元，存儲器，內插單元，壓縮單元，波形分析單元，波形繪制單元，顯示屏，

所述采樣單元，用于對波形數字信號進行采集生成波形采樣點數據并發送至所述存儲控制單元；

所述存儲控制單元，用于接收所述采樣單元發送的波形采樣點數據并存儲至所述存儲器；

所述內插單元，用于對所述存儲器所存儲的波形采樣點數據進行數據內插處理，并將處理后的內插數據發送至所述壓縮單元；

所述壓縮單元，用于對所述存儲器的存儲數據進行數據壓縮處理，產生壓縮波形數據；

所述波形分析單元，用于對所述壓縮波形數據進行波形分析；

所述波形繪制單元，用于對所述壓縮波形數據進行波形繪制；

所述顯示屏，用于以波形方式顯示波形數據；

其特征在于，

所述壓縮單元包括第一壓縮單元和第二壓縮單元，

所述第一壓縮單元，用于對所述存儲器的存儲數據進行第一次數據壓縮處理，產生第一壓縮波形數據；

所述第二壓縮單元，用于對所述第一壓縮波形數據進行第二次壓縮處理，產生第二壓縮波形數據；

所述波形分析單元，用于對所述壓縮波形數據進行波形分析，是指，對所述第一壓縮波形數據進行波形分析；

所述波形繪制單元，用于對所述壓縮波形數據進行波形繪制，是指，對所述第二壓縮波形數據進行波形繪制。

2.如權利要求1所述的數字示波器，其特征在于，還包括主控制單元，所述主控制單元根據所述存儲器的存儲數據、所述波形分析單元的波形分析點數和所述波形繪制單元的波形繪制點數計算所述內插單元的內插倍數、所述第一壓縮單元的壓縮倍數和所述第二壓縮單元的壓縮倍數。

3.如權利要求2所述的數字示波器，其特征在于，所述波形分析點數大于等于所述波形繪制點數。

4.如權利要求2所述的數字示波器，其特征在于，所述主控制單元包括比較單元，計算單元和配置單元，

所述比較單元，用于將所述存儲器的存儲數據與所述波形分析單元的波形分析點數進行比較得到第一比較結果，將所述波形分析單元的波形分析點數與所述波形繪制單元的波形繪制點數進行比較得到第二比較結果，并將所述第一比較結果和所述第二比較結果發送至所述計算單元；

所述計算單元，用于根據所述比較單元的第一比較結果，計算所述內插單元的內插倍數、所述第一壓縮單元的壓縮倍數；根據所述比較單元的第二比較結果，計算所述第二壓縮單元的壓縮倍數，并將計算結果發送至所述配置單元；

所述配置單元，用于將所述計算單元所計算的所述內插單元的內插倍數、所述第一壓縮單元的壓縮倍數和所述第二壓縮單元的壓縮倍數進行配置。

5.如權利要求4所述的數字示波器，其特征在于，所述計算單元利用如下公式計算所述內插單元的內插倍數和所述第一壓縮單元的壓縮倍數：

F＝A×intx÷comp1

其中，F為第一壓縮單元輸出的點數，A為原始波形點數，intx為內插倍數，comp1為第一壓縮單元壓縮倍數，且上述參數值均為正整數。

6.如權利要求4所述的數字示波器，其特征在于，所述計算單元利用如下公式計算所述內插單元的內插倍數和所述第一壓縮單元的壓縮倍數：

F＝A×intx÷comp1–offset

其中，F為第一壓縮單元輸出的點數，A為原始波形點數，intx為內插倍數，comp1為第一壓縮單元壓縮倍數，offset 為偏移量，且上述參數值均為正整數。

7.如權利要求5或者6所述的數字示波器，其特征在于，所述計算單元利用如下公式計算所述第二壓縮單元的壓縮倍數：

B＝F÷comp2

其中，B為第二壓縮單元輸出的點數，F為第一壓縮單元輸出的點數，comp2為第二壓縮單元壓縮倍數；且上述參數值均為正整數。

8.如權利要求7所述的數字示波器，其特征在于，所述第一壓縮單元壓縮后的波點數為所述第二壓縮單元壓縮后的波點數的整數倍。