[發明專利]一種宏觀檢查裝置及宏觀檢查方法

在審

• 申請號: 201710332912.2
• 申請日: 2017-05-12
• 公開（公告）號: CN106990567A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 劉小成;尹鳳鳴;肖松
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1337;G01N21/88;G01N21/95
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司44304
• 代理人: 孫偉峰

技術領域

本發明涉及面板制造技術領域，尤其涉及一種宏觀檢查裝置及宏觀檢查方法。

背景技術

HVA光配向技術是TFT LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，即薄膜晶體管液晶顯示器)液晶面板生產工藝的一種液晶配向技術，指在給玻璃基板施加電壓同時通過支撐平臺給玻璃基板加熱的情況下，再通過UV(Ultra-Violet Ray，即紫外線)光照射使基板內高分子的單體反應，從而達到液晶配向的目的一種光配向技術。因其與傳統摩擦配向相比，具有高對比度、廣視角、少靜電及顆粒物等優勢，目前已逐步成為大尺寸LCD面板生產的主流技術。

在HVA光配向產品生產過程中，在二次UV配向后工人需要對HVA光配向后的基板模擬二次點燈以進行宏觀檢查(目視檢查)，用于檢查基板的品相，提前偵測到產品異常，便于提前改善，然后才能進入二次點燈程序，避免基板在一次點燈、二次點燈后才發現產品異常，造成大批量報廢。

宏觀檢查的大致原理是：宏觀檢查機的翻轉機構將基板及燈箱旋轉至近似垂直狀態，然后對玻璃基板加電模擬二次點燈方式，光線自玻璃基板的背面照射后，玻璃基板前方的工人就能通過觀察進行缺陷檢查，通過不同的點燈畫面可以檢出不同的缺陷，如液晶氣泡，垂直/水平線缺陷、配向異常等。

然而，目前的HVA宏觀檢測機雖然可以檢測出大部分配向異常，但是仍然存在部分配向異常無法檢測出，如一次UV配向時某一公共電極無信號輸入造成的配向異常無法通過靜態切換畫面來觀察，需要在二次點燈時按壓已貼TFT(薄膜晶體管陣列)偏光片與CF(color filter，即彩色濾光片)偏光片的基板來檢查，若畫面能在短時間(1s以內)內恢復按壓前狀態，則該基板無缺陷，若畫面長時間(一般會超過2s以上)無法恢復至按壓前狀態，則該基板存在缺陷。因此，急需一種能夠檢測出電極信號輸入造成的配向異常的宏觀檢查機。

發明內容

鑒于現有技術存在的不足，本發明提供了一種宏觀檢查裝置及宏觀檢查方法，可有效對HVA光配向造成的配向異常進行偵測，避免HVA配向異常漏放至二次點燈造成大量報廢，從而提升產品良率，提升生產線穩定性。

為了實現上述的目的，本發明采用了如下的技術方案：

一種宏觀檢查裝置，包括：

點燈模塊，用于模擬點亮不含TFT側偏光片的面板；

升降模塊，間隔地設于所述點燈模塊一側，在豎直方向上可移動，內部設有用于控制所述升降模塊高度的操作面板；

按壓機構，用于接觸并按壓所述面板表面，以便觀察被按壓后的基板表面。

作為其中一種實施方式，所述點燈模塊包括背光源和面板驅動模塊，所述面板驅動模塊通過探針與基板的電極接觸以提供變化的驅動信號。

作為其中一種實施方式，所述升降模塊包括承載部和用于固定TFT側偏光片的支撐部。

作為其中一種實施方式，所述升降模塊內還固定有攝像頭，所述攝像頭的固定高度不低于所述支撐部且相對于所述支撐部更遠離所述點燈模塊，使所述攝像頭正對所述支撐部上的TFT側偏光片。

作為其中一種實施方式，所述攝像頭底部連接有用于調節攝像頭與所述點燈模塊之間間距的調節機構。

作為其中一種實施方式，所述按壓機構包括延伸部、鉸接在所述延伸部端部的保持塊以及用于接觸所述面板的滾珠；所述保持塊內開設有通孔，且所述通孔靠近所述保持塊末端的直徑小于所述滾珠，所述滾珠容納于所述通孔內且部分凸出于所述保持塊末端。

作為其中一種實施方式，所述延伸部包括相互配合的伸縮套筒和伸縮桿，以及兩端分別與所述伸縮桿和所述保持塊鉸接的轉動桿。

作為其中一種實施方式，所述延伸部還包括設于所述伸縮套筒端部的手柄部。

作為其中一種實施方式，所述按壓機構為機械手，固定在所述升降模塊內并伸出所述升降模塊。

本發明的另一目的在于提供一種使用所述的宏觀檢查裝置的宏觀檢查方法，包括：使按壓機構接觸并按壓面板表面；在面板表面劃動按壓機構；以及控制升降模塊在豎直方向上運動以對面板的不同區域進行按壓。