[發明專利]用于測量材料高溫壓縮性能的外輔熱裝置及測試裝置有效
| 申請號: | 201710332245.8 | 申請日: | 2017-05-12 |
| 公開(公告)號: | CN107014699B | 公開(公告)日: | 2019-11-22 |
| 發明(設計)人: | 許慶彥;許自霖;鐘江偉;蘇香林;邵珩 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | G01N3/18 | 分類號: | G01N3/18;G01N3/02 |
| 代理公司: | 11201 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人: | 趙天月<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 10008*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測量 材料 高溫 壓縮 性能 外輔熱 裝置 測試 | ||
1.一種用于測量材料高溫壓縮性能的外輔熱裝置,其特征在于,包括:
加熱部件,所述加熱部件設置在高溫合金壓頭和待測樣品的外側,利用電流對所述加熱部件進行加熱,形成高溫環境;
絕緣部件,所述絕緣部件設置在所述加熱部件與高溫合金壓頭之間,且具有開槽;
增強部件,所述增強部件設置在所述加熱部件的外表面的至少一部分;
保溫部件,所述保溫部件設置在所述增強部件的外表面;
測溫部件,所述測溫部件設置在所述保溫部件中,并與增強部件外表面接觸;
溫控系統,所述溫控系統與所述測溫部件和所述加熱部件相連;
其中,所述高溫環境為1000攝氏度以上,所述加熱部件由碳化硅形成的,且對于圓柱狀的所述待測樣品,所述加熱部件為螺紋管狀,所述絕緣部件和所述增強部件都為套管,所述保溫部件為管狀。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述待測樣品由不導電材料形成。
3.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述待測樣品由陶瓷材料形成。
4.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述加熱部件包括:
發熱段,所述發熱段直接給待測樣品升溫;以及
導電段,所述導電段給所述發熱段加熱。
5.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述增強部件和所述絕緣部件由剛玉形成的。
6.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述保溫部件由保溫纖維組成的。
7.一種用于測試材料高溫壓縮性能的測試裝置,其特征在于,包括權利要求1~6任一項所述的外輔熱裝置。
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