[發明專利]校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計

有效

• 申請號: 201710330806.0
• 申請日: 2017-05-11
• 公開（公告）號: CN107543605B
• 公開（公告）日: 2019-10-22
• 發明（設計）人: 李揆浩;金圭錫;樸相優;池成哲;樸用熙;崔升曄
• 申請（專利權）人: ANI有限公司
• 主分類號: G01J1/02
• 分類號: G01J1/02;G01J3/02;G01J3/46;G01M11/02
• 代理公司: 北京市中倫律師事務所 11410
• 代理人: 石寶忠

1.一種校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，包括：

透鏡模塊，所述透鏡模塊供從一側照射的光入射；

偏振光轉換模塊，所述偏振光轉換模塊對通過所述透鏡模塊入射的光進行透射以改變偏振光特性；

分光模塊，所述分光模塊被設置為一個單元塊，對經由所述偏振光轉換模塊而入射的光進行反射和透射，以沿彼此不同的三個方向進行分光；

濾光模塊，所述濾光模塊分別設置在通過所述分光模塊沿彼此不同的三個方向進行分光后的各個光的行進路徑上，以將沿所述三個方向經分光的各個光透射成包含特定光譜的單色光；以及

測量模塊，所述測量模塊被設置成對應于經所述濾光模塊所透射的各個所述單色光的出射角，且被設置成能夠測量各個所述單色光的亮度、色度和缺陷中的至少一者，

其中，所述偏振光轉換模塊包括波片，所述波片將線偏振光轉換成圓偏振光，且所述波片是具有預定厚度以使沿彼此垂直的方向振動的線偏振光產生1/4波長的光程差的1/4波片。

2.根據權利要求1所述的校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，其中，所述分光模塊包括：

第一分光體，所述第一分光體對所入射的光進行反射和透射以沿彼此不同的兩個方向進行分光；以及

第二分光體，所述第二分光體對由所述第一分光體所透射的光進行反射和透射以沿彼此不同的兩個方向進行分光，

其中，從光入射至所述第一分光體的位置開始到經過沿彼此不同的三個方向而分光并到達各濾光模塊為止的距離被設置成全部相同。

3.根據權利要求2所述的校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，其中，當入射至所述第一分光體的光的總量為1時，經過沿所述彼此不同的三個方向而分光后的各個光的量分別為相同的三分之一。

4.根據權利要求1所述的校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，其中，通過由所述濾光模塊所透射的各個所述單色光所獲得的各個成像具有彼此相同的視野范圍。

5.根據權利要求1所述的校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，其中，所述濾光模塊將經過沿所述彼此不同的三個方向而分光后的各個光轉換成對應于三刺激值中的X值的光譜、對應于三刺激值中的Y值的光譜和對應于三刺激值中的Z值的光譜。

6.一種校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，包括：

透鏡模塊，所述透鏡模塊供從一側照射的光入射；

分光模塊，所述分光模塊被設置為一個單元塊，對經由所述透鏡模塊而入射的光進行反射和透射，以沿彼此不同的三個方向進行分光；

偏振光轉換模塊，所述偏振光轉換模塊分別設置在通過所述分光模塊沿彼此不同的三個方向而分光后的各個光的行進路徑上，以對沿所述三個方向經分光的各個光進行透射以改變偏振光特性；

濾光模塊，所述濾光模塊分別設置在經過沿彼此不同的三個方向而分光后經由所述偏振光轉換模塊的各個光的行進路徑上，以將所透射的光轉換為包含特定光譜的單色光；以及

測量模塊，所述測量模塊被設置成對應于經所述濾光模塊所透射的各個所述單色光的出射角，且被設置成能夠測量各個所述單色光的亮度、色度和缺陷中的至少一者，

其中，所述偏振光轉換模塊包括波片，所述波片將線偏振光轉換成圓偏振光，且所述波片是具有預定厚度以使沿彼此垂直的方向振動的線偏振光產生1/4波長的光程差的1/4波片。

7.根據權利要求6所述的校正由線偏振光引起的測量誤差的亮度色度計，其中，所述分光模塊包括：

第一分光體，所述第一分光體對所入射的光進行反射和透射以沿彼此不同的兩個方向進行分光；以及

第二分光體，所述第二分光體對由所述第一分光體所透射的光進行反射和透射以沿彼此不同的兩個方向進行分光，

其中，從光入射至所述第一分光體的位置開始到經過沿彼此不同的三個方向而分光并到達各濾光模塊為止的距離被設置成全部相同。