[發(fā)明專利]基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710329903.8 | 申請日: | 2017-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN107144549B | 公開(公告)日: | 2023-04-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄧軍;王偉峰;殷聰;杜京義;馬礪;張保龍;陳煒樂 | 申請(專利權(quán))人: | 西安科技大學(xué);西安捷銳消防科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01N21/39 | 分類號: | G01N21/39 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 楊引雪 |
| 地址: | 710054 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 tdlas 痕量 co 氣體 濃度 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)搭建基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測裝置;
所述檢測裝置包括函數(shù)信號發(fā)生器、激光器、準直器、流量計、氣泵、herriott吸收池、溫度傳感器、壓力傳感器、聚焦透鏡、光電探測器、前置放大器、數(shù)字鎖相放大器、微處理器和計算機;
函數(shù)信號發(fā)生器的輸出端分別與激光器和數(shù)字鎖相放大器的輸入端連接;激光器通過光纖與準直器連接;準直器設(shè)置在herriott吸收池的入射端口前的入射光路上;流量計與氣泵通過輸氣管依次連接在herriott吸收池進氣口處;溫度傳感器的探頭安裝在herriott吸收池內(nèi),溫度傳感器的輸出端與微處理器連接,壓力傳感器設(shè)置在herriott吸收池的氣體出口處,壓力傳感器輸出端與微處理器連接;聚焦透鏡設(shè)置在herriott吸收池出射端口的出射光路上;光電探測器設(shè)置在聚焦透鏡的焦點處,光電探測器的輸出端與前置放大器的輸入端連接;前置放大器的輸出端與數(shù)字鎖相放大器的輸入端連接;數(shù)字鎖相放大器的輸出端與微處理器連接;微處理器與計算機通信連接,微處理器內(nèi)設(shè)有修正模塊,所述修正模塊用于對檢測到的氣體濃度值進行修正;
激光器的光出孔、準直器的光入孔和光出孔、herriott吸收池的光入孔和光出孔均設(shè)置在同一直線上;
2)將入射激光調(diào)整為參考波長的入射激光;
3)將調(diào)整后的入射激光準直,準直后的入射激光被herriott吸收池內(nèi)的CO吸收并轉(zhuǎn)化為出射激光;測量吸收池內(nèi)的壓強和溫度值;
4)將出射激光轉(zhuǎn)化為電信號,并對電信號進行放大;
5)對放大后的電信號進行低通濾波,微弱電信號提取以及諧波檢測,完成二次諧波的采集與提取;
6)對二次諧波進行A/D轉(zhuǎn)換,對氣體濃度進行反演,得到修正前不同溫度壓力下的氣體濃度值C(xy),對測量的溫度與壓強信號進行A/D轉(zhuǎn)換,得到溫度值y與壓強值x;
7)微處理器對氣體濃度值進行修正,微處理器內(nèi)設(shè)有修正模塊,所述修正模塊包含修正公式:
C(0)=C(xy)/(0.615-0.0015x+0.0175y-5.438×10-6x2-0.00011xy-0.000025y2-
2.9255×10-7x2y+3.3185×10-6xy2-3.292×10-6y3)
其中:
x表示吸收池內(nèi)壓強值(kPa);
y表示吸收池內(nèi)溫度值(℃);
C(xy)表示修正前不同溫度壓力下的氣體濃度值(ppm);
C(0)表示修正后常溫常壓下的氣體濃度值(ppm);
8)顯示修正后的氣體濃度值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測方法,其特征在于:激光器為DFB激光器,herriott吸收池為長光程吸收池。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測方法,其特征在于:光電探測器采用銦鎵砷傳感器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測方法,其特征在于:函數(shù)信號發(fā)生器型號為AFG3052C。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測方法,其特征在于:微處理器采用STM32單片機。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于TDLAS痕量CO氣體濃度的檢測方法,其特征在于:溫度傳感器為WSB-5-H2,壓力傳感器為MY-YBS-C。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





