[發明專利]外徑測量機構

在審

• 申請號: 201710325822.0
• 申請日: 2017-05-10
• 公開（公告）號: CN106989656A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 宋秋構
• 申請（專利權）人: 蘇州金世博精密機電有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 江陰義海知識產權代理事務所(普通合伙)32247
• 代理人: 陳建中

技術領域

本發明涉及一種外徑測量機構。

背景技術

在大批量生產過程中，經常需要測量產品的外徑，傳統的檢驗方法主要是通過千分尺來進行的，傳統的測量方式，對操作人員的技能要求比較高，不僅測量效率慢，而且容易造成產品質量不良。

發明內容

本發明的目的在于提供一種外徑測量機構，其千分表的測頭可方便快捷的靠近或者遠離待測量的產品，進而提高測量效率。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種外徑測量機構，包括底座、定位件、支撐座和千分表，定位件安裝在底座上，定位件用于定位待測量的產品，支撐座安裝在底座上，支撐座用于支撐千分表，千分表上設有支撐軸，支撐軸的端部設有測頭，支撐座上設有安裝孔，千分表的支撐軸穿過支撐座上的安裝孔，測頭朝向待測量的產品，測頭用于測量產品的外徑，支撐軸上套設有彈簧，彈簧提供測頭靠向產品的阻力，上述支撐座上還安裝有壓手，壓手提供測頭靠向產品的力。

優選地，支撐軸上還安裝有滾動摩擦機構，滾動摩擦機構位于安裝孔內，滾動摩擦機構用于減少支撐軸與安裝孔相對滑動時的摩擦力。

本發明的工作原理為：向定位件上安放待測量的產品時，張開壓手，測頭在彈簧的彈力作用下，遠離待測量的產品，產品放到位后，壓緊壓手，壓手的力大于彈簧的力，進而使得測頭靠向產品，完成外徑測量，提高了測量效率。

本發明的有益效果為：其千分表的測頭可方便快捷的靠近或者遠離待測量的產品，進而提高測量效率。

附圖說明

圖1是本發明的示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本發明的具體實施方式作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本發明的技術方案，而不能以此來限制本發明的保護范圍。

本發明具體實施的技術方案是：

如圖1所示，

一種外徑測量機構，包括底座1、定位件2、支撐座6和千分表7，定位件2安裝在底座1上，定位件2用于定位待測量的產品3，支撐座6安裝在底座1上，支撐座6用于支撐千分表7，千分表7上設有支撐軸5，支撐軸5的端部設有測頭4，支撐座6上設有安裝孔，千分表7的支撐軸5穿過支撐座6上的安裝孔，測頭4朝向待測量的產品3，測頭4用于測量產品3的外徑，支撐軸5上套設有彈簧，彈簧提供測頭4靠向產品3的阻力，上述支撐座6上還安裝有壓手8，壓手8提供測頭4靠向產品3的力。

支撐軸5上還安裝有滾動摩擦機構，滾動摩擦機構位于安裝孔內，滾動摩擦機構用于減少支撐軸5與安裝孔相對滑動時的摩擦力。

本發明的工作原理為：向定位件2上安放待測量的產品3時，張開壓手8，測頭4在彈簧的彈力作用下，遠離待測量的產品3，產品3放到位后，壓緊壓手8，壓手8的力大于彈簧的力，進而使得測頭4靠向產品3，完成外徑測量，提高了測量效率。

本發明的有益效果為：其千分表7的測頭4可方便快捷的靠近或者遠離待測量的產品3，進而提高測量效率。

以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明技術原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。